[发明专利]一种校准电能表的方法及系统

权利要求书

1.一种校准电能表的方法，其特征在于，所述电能表包括主控芯片、计量芯片和采样模块；

所述方法包括：

所述主控芯片获取校准命令，并将所述校准命令发送给所述计量芯片，其中，所述校准命令携带有标准电源的实际电学参数和校准项目；

所述计量芯片解析所述校准命令，获取所述实际电学参数和所述校准项目；

所述计量芯片获取采样电学参数，并将所述采样电学参数存储于自身的寄存器中，所述采样电学参数由所述采样模块对所述标准电源进行采样得到；

所述计量芯片根据所述实际电学参数、所述采样电学参数和所述校准项目，确定校准参数，并将所述校准参数存储于自身的寄存器中，以完成校准。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述主控芯片获取校准命令，包括：

上位机获取电源输出命令和所述校准项目，并发送所述电源输出命令给所述标准电源；

所述标准电源根据所述电源输出命令输出所述实际电学参数，并将所述实际电学参数发送给所述上位机；

所述上位机对所述实际电学参数和所述校准项目进行封装形成所述校准命令，并将所述校准命令发送给所述主控芯片。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，

所述计量芯片根据所述实际电学参数、所述采样电学参数和所述校准项目，确定校准参数，包括：

若所述校准项目包括数值校准，则计算所述实际电学参数和所述采样电学参数之间的增益值，并将所述增益值作为所述校准参数；和/或，

若所述校准项目包括零偏校准，则计算所述实际电学参数的零偏和所述采样电学参数的零偏之间的偏移值，并将所述偏移值作为所述校准参数。

4.根据权利要求1-3任意一项所述的方法，其特征在于，在所述计量芯片获取采样电学参数之前，还包括：

所述计量芯片清空自身的寄存器。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

所述计量芯片将所述校准参数发送给所述主控芯片保存。

6.根据权利要求1-5任意一项所述的方法，其特征在于，所述实际电学参数或所述采样电学参数包括电压、电流、功率、功率因数和/或相位。

7.一种校准电能表的系统，其特征在于，包括电能表和标准电源，其中，所述电能表包括主控芯片、计量芯片和采样模块；

所述主控芯片获取校准命令，并将所述校准命令发送给所述计量芯片，其中，所述校准命令携带有标准电源的实际电学参数和校准项目；

所述计量芯片解析所述校准命令，获取所述实际电学参数和所述校准项目；

所述计量芯片获取采样电学参数，并将所述采样电学参数存储于自身的寄存器中，所述采样电学参数由所述采样模块对所述标准电源进行采样得到；

所述计量芯片根据所述实际电学参数、所述采样电学参数和所述校准项目，确定校准参数，并将所述校准参数存储于自身的寄存器中，以完成校准。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述系统还包括上位机；

所述上位机获取电源输出命令和所述校准项目，并发送所述电源输出命令给所述标准电源；

所述标准电源根据所述电源输出命令输出所述实际电学参数，并将所述实际电学参数发送给所述上位机；

所述上位机将所述实际电学参数和所述校准项目封装于所述校准命令中，并将所述校准命令发送给所述主控芯片。

9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，在所述计量芯片解析所述校准命令之前，所述计量芯片清空自身的寄存器。

10.根据权利要求9所述的系统，其特征在于，所述计量芯片将所述校准参数发送给所述主控芯片保存。