[发明专利]用于温湿度传感器的测试系统及方法

说明书

本申请提供一种用于温湿度传感器的测试系统及方法，测试系统中的测试箱的温度和湿度能够同时独立控制，可以为待测温湿度传感器分别提供不同的测试温度和湿度。通过在温度和湿度两种环境相结合的交变环境中对温湿度传感器进行电测试和电老炼，采用数据采集单元对待测温湿度传感器进行数据采集，再经信号处理单元对采集到的数据进行计算分析，得到待测温湿度传感器的检测性能数据，根据检测性能数据对待测温湿度传感器的性能进行评估，从而剔除低性能、低可靠性的劣质温湿度传感器。此外，测试单元中的测试电路板与待测温湿度传感器是插接的，可以利用一块测试电路板对多个温湿度传感器进行测试，提高测试效率。

技术领域

本申请涉及传感器检测老炼技术领域，尤其涉及一种用于温湿度传感器的测试系统及方法。

背景技术

目前，温湿度传感器器件市场上充斥着大量的劣质器件，其中主要包括低性能器件和低可靠性器件。这些劣质温湿度传感器一旦流入产品的生产环节，轻则直接影响到产品的生产周期、质量和使用寿命，重则威胁使用者和他人的生命财产安全。而一旦流入军工行业，甚至将会影响我国的国防安全，危害国家利益。

目前普遍的温湿度传感器的测试方法是对器件的微小结构进行检测。利用检测芯片实现温湿度敏感结构检测。数据经过单片机处理后由LCD显示。利用恒温恒湿试验箱对带有温湿度传感器的电路板进行多点采样，从而实现对器件性能的测试。该方法是依据微电子集成电路的测试方法进行制定的，对传感器的测试存在一定不足，无法对传感器的响应特性、回滞特性等参数进行准确测试。

发明内容

有鉴于此，本申请的目的在于提出一种用于温湿度传感器的测试系统及方法。

基于上述目的，本申请提供了一种温湿度传感器的测试系统，包括：

测试单元，被配置为能够为待测温湿度传感器提供测试环境；

数据采集单元，被配置为对所述测试单元进行数据采集；

信号处理单元，被配置为对接收到的所述数据采集单元采集的数据进行分析处理。

进一步的，所述测试单元包括测试箱、温度计、露点仪、测试电路板、温度控制器和湿度控制器，所述温度计、所述露点仪和所述测试电路板均设置在所述测试箱内部，所述温度控制器和所述湿度控制器设置在所述测试箱外部，所述温度计、所述露点仪和所述测试电路板均与所述数据采集单元电连接，所述待测温湿度传感器能够固设在所述测试电路板上，所述温度计被配置为能够对所述待测温湿度传感器进行温度测试，所述露点仪被配置为能够对所述待测温湿度传感器进行湿度测试，所述温度控制器被配置为对所述测试箱内的温度进行调节，所述湿度控制器被配置为对所述测试箱内的湿度进行调节。

进一步的，所述温度计和所述露点仪的精度均高于所述待测温湿度传感器的精度。

进一步的，所述温度计、所述露点仪和所述测试电路板与所述数据采集单元之间的传输信号线均为屏蔽线。

进一步的，所述待测温湿度传感器通过测试夹具固定在所述测试电路板上。

进一步的，所述测试电路板表面和所述测试夹具表面均是经过预处理的。

进一步的，所述温度控制器控制所述测试箱内的温度至少每2min升高或降低1℃。

进一步的，所述湿度控制器控制所述测试箱内的湿度至少每2min升高或降低1％rh。

基于同一发明构思，本申请还提供了一种温湿度传感器的测试方法，包括：

预先设置待测温湿度传感器的温度测试范围和湿度测试范围；

将待测温湿度传感器固定在测试箱内，基于所述温度测试范围对所述待测温湿度传感器进行保温预处理；