[发明专利]基于STM32的符号速率测量方法、装置及存储介质

权利要求书

1.基于STM32的符号速率测量方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤S1：基于接收信号获得待测文本数据，并将待测文本数据存入缓存区；

步骤S2：读取缓存区的待测文本数据，并将待测文本数据转换为待测浮点数据；

步骤S3：基于待测浮点数据，进行接收信号的延迟自相关计算，获得延时相乘信号；

步骤S4：基于延迟自相关的符号速率测量算法对延时相乘信号进行符号速率谱线的检测，获得符号速率。

2.根据权利要求1所述的基于STM32的符号速率测量方法，其特征在于，步骤S2中，所述读取缓存区的待测文本数据，并将待测文本数据转换为待测浮点数据，包括：

步骤S21：读取缓存区的待测文本数据；

步骤S22：基于读取的待测文本数据，判断待测文本数据是否存在分隔字符：

若待测文本数据存在分隔字符，则通过atof函数将待测文本数据转换为浮点类型数据，并判断缓存区的待测文本数据是否读完，若缓存区的待测文本数据未读完，则返回步骤S21；若缓存区的待测文本数据已读完，则执行步骤S3；

若待测文本数据不存在分隔字符，则将待测文本数据存入字符数组，返回步骤S21。

3.根据权利要求1所述的基于STM32的符号速率测量方法，其特征在于，步骤S3中，所述基于待测浮点数据，进行接收信号的延迟自相关计算，获得延时相乘信号，具体为：

基于待测浮点数据，对接收信号进行延时，获得延时信号，然后将接收信号与延时信号进行相乘，获得延时相乘信号。

4.根据权利要求1所述的基于STM32的符号速率测量方法，其特征在于，步骤S4中，所述基于延迟自相关的符号速率测量算法对延时相乘信号进行符号速率谱线的检测，包括：

步骤S41：对延时相乘信号进行频谱计算，以获得功率谱；

步骤S42：对功率谱进行去直流分量的处理，获得去直流功率谱；

步骤S43：基于去直流功率谱谱搜索符号速率谱线位置，并进行符号速率计算，获得符号速率。

5.根据权利要求1所述的基于STM32的符号速率测量方法，其特征在于，步骤S1中，所述基于接收信号获得待测文本数据，并将待测文本数据存入缓存区，包括：通过串口接收获得待测文本数据，并将待测文本数据存入缓存区。

6.根据权利要求3所述的基于STM32的符号速率测量方法，其特征在于，所述对接收信号进行延时，获得延时信号，然后将接收信号与延时信号进行相乘，获得延时相乘信号，具体为：

假设接收信号为：

x(t)＝a(t)cosw₀t+n₁(t) (1)

其中，a(t)是数字基带信号，w₀为载波频率，n₁(t)为高斯白噪声，这里假设载波初相位为0，延时相乘信号y(t)为：

其中，y(t)为延时相乘信号，x(t)为接收信号，x(t-τ)为延时信号，n₂(t)为相乘运算后的噪声项，a(t)是数字基带信号，w₀为载波频率，τ为延时时间。

7.根据权利要求4所述的基于STM32的符号速率测量方法，其特征在于，所述功率谱计算公式为：

其中，P(f)表示功率谱，G₁(f)和G₂(f)分别表示消息码“0”、消息码“1”对应的符号波形的频谱函数，f_b是符号速率，从上式可以看出，当G₁(f)≠G₂(f)时，可以从基带信号的功率谱中检测到频率等于符号速率的离散谱线。

8.根据权利要求4所述的基于STM32的符号速率测量方法，其特征在于，步骤S43中，所述基于去直流功率谱谱搜索符号速率谱线位置，并进行符号速率计算，获得符号速率，包括：基于去直流功率谱谱搜索符号速率谱线位置，并进行基于快速傅立叶变换的符号速率计算，获得符号速率。