[发明专利]一种浇注可逆元器件制样研磨方法

说明书

本发明实施例提供了一种浇注可逆元器件制样研磨方法，其特征在于，包括步骤：步骤1：将在80℃熔化成液体的石蜡引流致放置有样品的模具中；步骤2：将冷却固化的石蜡连同其中的样品从模具中取下，开展研磨、抛光，对抛光后的制样进行镜检、拍照；步骤3：采用对样品无损的方式将石蜡熔化成液态，从液状石蜡中取出完成镜检、拍照流程的样品，并对样品进行清洗。

技术领域

本发明属于元器件制样镜检技术领域，涉及一种浇注可逆元器件制样研磨方法。

背景技术

3A(CA-结构分析、DPA-破坏性物理分析、FA-失效分析)在电子元器件的质量控制、产品评价及质量问题处理中起到非常重要的作用，其结果关系到元器件的结构设计是否合理、批生产过程是否受控、发生失效是否可以定位准确等。

元器件3A过程中往往涉及一个重要项目浇注制样镜检，传统的方法是将元器件浇铸在按照一定比例配制非可逆的热塑性环氧树脂中，经过数小时的静置，环氧树脂凝固，然后按照要求的方向研磨。

由于浇注制样为破坏性试验，传统浇注采用的非可逆的热塑树脂，故在浇筑前务必将非破坏性的试验项目开展完成。一旦浇注，非剖面的地方将难以测试和观察(比如显微镜观察、能谱分析等)。且不可将制样的元器件从数酯中取出开展其他试验，大大降低元器件的利用效率。

发明内容

本发明的目的在于提供一种浇注可逆元器件制样研磨方法，其特征在于，包括步骤：

步骤1：将在80℃熔化成液体的石蜡引流致放置有样品的模具中；

步骤2：将冷却固化的石蜡连同其中的样品从模具中取下，开展研磨、抛光，对抛光后的制样进行镜检、拍照；

步骤3：采用对样品无损的方式将石蜡熔化成液态，从液状石蜡中取出完成镜检、拍照流程的样品，并对样品进行清洗。

优选地，所述步骤1包括：

步骤11：将需要浇注样品放入模具内；

步骤12：按需取石蜡放入玻璃烧杯中；

步骤13：将盛有石蜡的烧杯放在加热台上，加热台设置温度80℃；

步骤14：将烧杯中石蜡加热至完全融化；

步骤15：将液状石蜡引流至放置有样品的模具中。

优选地，所述步骤2包括：

步骤21：将模具放在通风处自然冷却；

步骤22：将样品连同固化的石蜡从模具中取出，在砂纸和抛光布上研磨抛光，直至形貌达到最佳观测效果；

步骤23：对样品的剖面进行镜检、拍照。

优选地，所述步骤3包括：

步骤31：将制样研磨抛光样品放入烧杯，将烧杯放在加热台上，加热台设置温度80℃；

步骤32：加热直至样品上的石蜡完全融化；

步骤33：用镊子将样品从烧杯中取出，放入盛有酒精的烧杯中，放置5-10分钟；

步骤34：待样品上残留的石蜡溶解在酒精后将样品取出，制样完成。

为了解决传统非可逆环氧树脂浇注制样方法的不足，本发明旨在提供一种采用可逆材料进行浇注制样的方法。该方法与传统的环氧树脂浇注方法不同，采用可逆石蜡作为浇注材料的浇注制样方法。从而克服传统环氧树脂浇注制样后样品不可再利用和取出的缺点。提高元器件的利用率、促进元器件试验方法的效率。

附图说明

图1本试验所采用的样品、和材料(白色石蜡)；

图2所示为待浇注样品在模具中的状态；