[发明专利]一种功耗评估方法、装置、存储介质及电子设备

说明书

本申请提出一种功耗评估方法、装置、存储介质及电子设备，在对仿真芯片进行激励测试时，获取待评估模块在当前窗口期内发生翻转的信号的总翻转次数，待评估模块为仿真芯片中任一需要评估模块；若发生翻转的信号的总翻转次数大于历史最大翻转值，获取对应的峰值波形数据；历史最大翻转值为已获得的总翻转次数中的最大值；根据获得到的所述峰值波形数据进行功耗分析。当前窗口期包括N个具有连续性的时钟周期，其中的最后一个时钟周期为仿真芯片当前运行的时钟周期。通过获取各个窗口期中的总翻转次数，进行比较，从而确定待评估模块在窗口期下的最大功耗。通过将比较的周期拉长，解决了毛刺现象导致的误报问题。

技术领域

本申请涉及芯片技术领域，具体而言，涉及一种功耗评估方法、装置、存储介质及电子设备。

背景技术

随着市场电子化的飞速发展和国际能源的加速紧张，目前市场对芯片的低功耗要求越来越高，特别是对于高端芯片领域，功耗越低的芯片可以使设备待机时间越长，即可以节约能源，也可以缓解耗电焦虑，提升用户的使用体验。因此对于芯片设计企业，芯片的低功耗设计越来越重要，而在设计芯片的过程中，硅前功耗评估是必不可少的。功耗分为静态功耗和动态功耗，其中静态功耗依据具体的工艺水平，其功耗值是固定的，所以在硅前功耗评估过程中主要评估的是芯片的动态功耗。

因此，如何快速、高效且准确地对动态功耗进行评估，成为了本领域技术人员亟待解决的难题。

发明内容

本申请的目的在于提供一种功耗评估方法、装置、存储介质及电子设备，以至少部分改善上述问题。

为了实现上述目的，本申请实施例采用的技术方案如下：

第一方面，本申请实施例提供一种功耗评估方法，应用于仿真平台，所述方法包括：

在对仿真芯片进行激励测试时，获取待评估模块在当前窗口期内发生翻转的信号的总翻转次数，其中，所述待评估模块为所述仿真芯片中任一需要评估模块，所述当前窗口期包括N个时钟周期，N为大于1的正整数，所述N个时钟周期具有连续性，所述当前窗口期中的最后一个时钟周期为所述仿真芯片当前运行的时钟周期；

若所述发生翻转的信号的总翻转次数大于历史最大翻转值，获取对应的峰值波形数据；其中，所述历史最大翻转值为已获得的总翻转次数中的最大值；

根据获得到的所述峰值波形数据进行功耗分析。

相对于现有技术，本申请实施例所提供的一种功耗评估方法，在对仿真芯片进行激励测试时，获取待评估模块在当前窗口期内发生翻转的信号的总翻转次数，待评估模块为仿真芯片中任一需要评估模块；若发生翻转的信号的总翻转次数大于历史最大翻转值，获取对应的峰值波形数据；根据获得到的峰值波形数据进行功耗分析。当前窗口期包括N个具有连续性的时钟周期，当前窗口期中的最后一个时钟周期为仿真芯片当前运行的时钟周期。通过获取各个窗口期中的总翻转次数，进行比较，从而确定待评估模块在窗口期下的最大功耗。通过将比较的周期拉长，解决了毛刺现象导致的误报问题，从而保障所获得的峰值波形数据的准确性，才能够保障获得的分析结果的准确性。并且通过将已获得的总翻转次数中的最大值更新为历史最大翻转值，然后基于更新后的历史最大翻转值对当前窗口期内发生翻转的信号的总翻转次数进行比较，从而保障新获得的翻转峰值的准确性。

可选地，所述根据获得到的所述峰值波形数据进行功耗分析，包括：将最后一次获得的所述峰值波形数据传输给功耗评估终端，以使所述功耗评估终端依据所述峰值波形数据进行评估分析，获得功耗分析结果。相对于将所有获得的峰值波形数据传输给功耗评估终端，仅需要将最后一次获得的峰值波形数据传输给功耗评估终端，一方面，可以保障功耗分析结果的准确性，另一方面，减少仿真平台与功耗评估终端之间进行数据传输，降低了通信负担。

可选地，所述获取待评估模块在当前窗口期内发生翻转的信号的总翻转次数，包括：