[发明专利]一种基于声学黑洞效应的圆柱壳减振结构有效
申请号: | 202111486905.0 | 申请日: | 2021-12-07 |
公开(公告)号: | CN114183489B | 公开(公告)日: | 2022-12-16 |
发明(设计)人: | 高南沙;罗栋栋;邓杰 | 申请(专利权)人: | 西北工业大学 |
主分类号: | F16F1/36 | 分类号: | F16F1/36;F16F1/373 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 姚咏华 |
地址: | 710072 陕西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 声学 黑洞 效应 圆柱 壳减振 结构 | ||
1.一种基于声学黑洞效应的圆柱壳减振结构,其特征在于,包括圆柱壳壳体,多个连接在所述圆柱壳壳体内壁上的环形加强筋,多个连接在所述圆柱壳壳体内壁且位于加强筋之间的声学黑洞构件,以及多个连接在声学黑洞构件下表面的阻尼层;
所述声学黑洞构件上表面为弧形面、下表面为台状凸起,且沿台状凸起两侧为呈流线型渐缩面,台状凸起平贴于圆柱壳壳体内壁,阻尼层附在流线型渐缩面两端部;
沿声学黑洞构件的上表面到下表面切向轴线的径向距离H为:
其中,以圆柱壳壳体的中心为原点,到第一声学黑洞区域的边缘线连线为起始角;θ1为第一声学黑洞区域与中间均匀区域的交界线到原点连线,与初始角的夹角;θ2为中间均匀区域的径向竖直轴线与初始角的夹角;h1为声学黑洞构件的边缘厚度,h1≥0;h2为中间均匀区域的上表面到切向轴线的径向距离;ε为剖面斜率,ε>0;m为黑洞阶次,m≥2;
台状凸起中间均匀区域的厚度为圆柱壳厚度的2倍;
两侧的流线型渐缩面边缘厚度为台状凸起中间均匀区域的厚度的0.05倍;
阻尼层厚度为两侧的流线型渐缩面边缘厚度的4倍。
2.根据权利要求1所述的一种基于声学黑洞效应的圆柱壳减振结构,其特征在于,多个所述声学黑洞构件刚性连接于所述圆柱壳壳体内壁上;
多个所述声学黑洞构件环形对称分布在所述圆柱壳壳体内壁上。
3.根据权利要求1所述的一种基于声学黑洞效应的圆柱壳减振结构,其特征在于,相邻的声学黑洞构件分布于两道加强筋之间互不接触。
4.根据权利要求1所述的一种基于声学黑洞效应的圆柱壳减振结构,其特征在于,声学黑洞构件包括中间均匀区域、第一声学黑洞区域和第二声学黑洞区域,中间均匀区域为台状凸起位置,第一声学黑洞区域和第二声学黑洞区域为台状凸起两侧的流线型渐缩面位置,阻尼层分别粘贴在第一声学黑洞区域和第二声学黑洞区域。
5.根据权利要求1所述的一种基于声学黑洞效应的圆柱壳减振结构,其特征在于,多个所述加强筋呈等间距阵列连接在所述圆柱壳壳体内壁上;
所述加强筋是曲率恒定的圆环形。
6.根据权利要求1所述的一种基于声学黑洞效应的圆柱壳减振结构,其特征在于,所述圆柱壳壳体、加强筋和声学黑洞构件材质为Q235A3钢;阻尼层的材质为橡胶、泡沫塑料或高阻尼合金之一。
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