[发明专利]一种单元测试方法、装置、计算设备及可读存储介质

说明书

本发明公开了一种单元测试方法、装置、计算设备及可读存储介质。本发明的单元测试方法在计算设备中执行，计算设备中存储有第一函数与第二函数的关联关系，第一函数为待测模块中需外设设备运行的函数，第二函数用于模拟第一函数的执行结果，并将执行结果返回至其对应的第一函数所在地址的下一地址处，该方法包括：在对待测模块执行测试的初始化阶段，确定第一函数中需要被替换的目标函数；基于关联关系确定与目标函数相对应的第二函数，并获取目标函数的第一地址和对应的第二函数的第二地址；在第一地址处构建用于跳转至第二地址处的跳转语句；以及对目标函数被替换后的待测模块执行测试。本发明的单元测试方法方便快捷。

技术领域

本发明涉及计算机领域，尤其涉及一种单元测试方法、装置、计算设备及可读存储介质。

背景技术

软件开发过程中，需要对其各个模块进行单元测试以来确保软件的质量。其中，一些模块的单元测试需要测试机与外设设备进行交互来完成。然而，很多情况下，测试机是无法连接外设设备的。显然这样，对于需要借助外设设备才能进行验证的模块便无法进行测试。

为此，亟需一种新的测试方法来解决上述技术问题。

发明内容

为此，本发明提供了一种单元测试方法、装置、计算设备及可读存储介质，以力图解决或者至少缓解上面存在的问题。

根据本发明的一个方面，提供一种单元测试方法，在计算设备中执行，计算设备中存储有第一函数与第二函数的关联关系，第一函数为待测模块中需外设设备运行的函数，第二函数用于模拟第一函数的执行结果，并将执行结果返回至其对应的第一函数所在地址的下一地址处，该方法包括：在对待测模块执行测试的初始化阶段，确定需要被替换的目标函数，目标函数为其运行所需的外设设备未被计算设备当前所连接的第一函数；基于关联关系确定与目标函数相对应的第二函数，并获取目标函数的第一地址和对应的第二函数的第二地址；在第一地址处构建用于跳转至第二地址处的跳转语句；以及对目标函数被替换后的待测模块执行测试。

可选地，在根据本发明的单元测试方法中，确定需要被替换的目标函数的步骤，包括：读取第一函数运行所需的外设设备以及计算设备当前所连接的外设设备；将其运行所需的外设设备未被计算设备当前所连接的第一函数，确定为目标函数。

可选地，在根据本发明的单元测试方法中，获取目标函数的第一地址和对应的第二函数的第二地址的步骤，包括：获取目标函数的函数类型；根据函数类型的取址语句，获取第一地址和第二地址。

可选地，在根据本发明的单元测试方法中，在第一地址处构建用于跳转至第二地址处的跳转语句的步骤，包括：获取待测模块所运行的平台类型；根据平台类型的跳转指令，构建跳转语句。

可选地，在根据本发明的单元测试方法中，平台类型包括X86平台、ARM平台和MIPS平台。

可选地，在根据本发明的单元测试方法中，在获取待测模块所运行的平台类型的步骤中，通过处理器架构获取工具获取待测模块所运行的平台类型。

可选地，在根据本发明的单元测试方法中，第一函数运行所需的外设设备包括光盘、U盘和外接硬盘。

根据本发明的又一个方面，提供一种单元测试装置，驻留在计算设备中，计算设备中存储有第一函数与第二函数的关联关系，第一函数为待测模块中需外设设备运行的函数，第二函数用于模拟第一函数的执行结果，并将执行结果返回至其对应的第一函数所在地址的下一地址处，该装置包括：确定单元，适于在对待测模块执行测试的初始化阶段，确定需要被替换的目标函数，目标函数为其运行所需的外设设备未被计算设备当前所连接的第一函数；获取单元，适于基于关联关系确定与目标函数相对应的第二函数，并获取目标函数的第一地址和对应的第二函数的第二地址；构建单元，适于在第一地址处构建用于跳转至第二地址处的跳转语句；以及测试单元，适于对目标函数被替换后的待测模块执行测试。