[发明专利]细砂石粒径检测装置和方法

权利要求书

1.一种细砂石粒径检测装置，其特征在于，该检测装置包括，

第一级水槽，为一竖直液体容器，待检测细砂石进入所述第一级水槽后在第一级水槽的液体中沿着槽壁下沉；

第二级水槽，为一水平液体容器，设有多个砂石收纳格，

所述第二级水槽与所述第一级水槽在第一级水槽的底部连通，

下沉到第一级水槽底部的细砂石进入到第二级水槽后，在水平力和重力同时作用下，落入不同的砂石收纳格；

图像拍摄单元，用于对落入砂石收纳格内的细砂石进行拍摄，所获得的图像用于对细砂石的粒径进行检测。

2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括水槽连接器，

该水槽连接器用于连接第一级水槽底部出口和第二级水槽的入口。

3.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，

所述砂石收纳格内设有一斜坡面，该斜坡面设有背光，所述细砂石经过该斜坡面落入所述砂石收纳格内，

所述图像拍摄单元的镜头面对所述斜坡面的正面。

4.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述第二级水槽设有溢流口。

5.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于，所述溢流口设有阀门，用于调节溢流口的流速。

6.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，该检测装置包括主控制器，所述主控制器包括处理器，以及与该处理器耦合的程序存储器，程序存储器中存储有细砂石粒径计算程序，用于根据从图像拍摄单元获得的细砂石图像中计算出所述细砂石的粒径。

7.根据权利要求6所述的检测装置，其特征在于，所述主控制器的处理器根据设定的程序，控制所述溢流口的阀门，调节溢流口的流速。

8.一种细砂石粒径检测方法，其特征在于，

设置第一级水槽，该水槽为一竖直液体容器，使得待检测的细砂石进入所述第一级水槽后在第一级水槽的液体中沿着槽壁下沉；

设置第二级水槽，该水槽为一水平液体容器，设有多个砂石收纳格，所述第二级水槽与所述第一级水槽在第一级水槽的底部连通，

下沉到第一级水槽底部的细砂石进入到第二级水槽后，在水平力和重力同时作用下，落入不同的砂石收纳格；

设置图像拍摄单元，用于对落入砂石收纳格内的细砂石进行拍摄，所获得的图像用于对细砂石的粒径进行检测。

9.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于，

设置水槽连接器，该水槽连接器用于连接第一级水槽底部出口和第二级水槽的入口。

10.根据权利要求9所述的检测方法，其特征在于，

在所述砂石收纳格内设一斜坡面，该斜坡面设有背光，所述细砂石经过该斜坡面落入所述砂石收纳格内，

同时，设置所述图像拍摄单元，使其镜头面对所述斜坡面的正面。