[发明专利]一种变比测试装置、变比测试方法、装置及介质

说明书

本申请公开了一种变比测试装置，涉及变压器领域，通过CPU先控制输出一个预设电压值，该预定电压值在待测变压器的高压侧与低压侧接反时也不会造成低压检测端烧坏，当判断接线正确时，可通过升高输出电压来测试变比值，若判断接线错误，则可停止测量，避免了因为被测对象接反导致测量通管道烧坏。另外，本申请还提供一种变比测试方法，应用于上述变比测试装置，本申请还提供一种变比检测装置及介质，与上述方法对应，效果同上。

技术领域

本申请涉及变压器领域，特别是涉及一种变比测试装置、变比测试方法、装置及介质。

背景技术

电压互感器、变压器等设备需要定期测试高压侧对低压侧的电压变比值(简称变比)，该值的变化反映了高压侧绕组、低压侧绕组的性能状态。电压互感器的二次接线检查也要通过变比值的测试来实现。现有的变比测试的方法是在待测变压器的高压侧施加一定的电压(10V～200V)，检测低压侧感应出的电压，高压侧施加的电压除以低压侧感应的电压即为互感器、变压器的变比值。变比测试仪器输出固定的输出电压，输出电压大小取决于内部变压器的降压比，输出10～200V，该输出电压施加到待测变压器的高压侧，同时将输出电压的电压值传输至CPU的高压检测端；将被测变压器的低压侧的输入电压传输至CPU的低压检测端，CPU通过输出电压与输入电压计算得到待测变压器的变比值。

由于现有的测试变比的装置限制，输出电压基本为100V左右的固定电压，若待测变压器高压侧和低压侧接反，就可能导致低压检测端烧坏。

由此可见，提供一种不会因为被测对象接反导致测量通管道烧坏的变比测试装置，是本领域人员亟待解决的技术问题。

发明内容

本申请的目的是提供一种不会因为被测对象接反导致测量通管道烧坏的变比测试装置。

为解决上述技术问题，本申请提供一种变比测试装置，包括：DAC，功率放大器，升压变压器，CPU；

所述DAC与CPU连接，所述DAC与所述功率放大器连接，所述功率放大器与所述升压变压器输入端连接；所述升压变压器输出端用于与待测变压器高压侧和所述CPU的高压检测端连接，所述待测变压器低压侧与所述CPU的低压检测端连接；

所述DAC用于接收所述CPU发出的数字信号，并根据所述数字信号生成基准交流信号，并将所述基准交流信号发送至所述功率放大器；

所述功率放大器用于对所述基准交流信号进行放大处理，输出放大交流信号；

所述升压变压器用于对所述放大交流信号进行升压处理，生成输出电压。

优选地，上述变比测试装置中，还包括：电流互感器，输出电流采样测量通道；

所述电流互感器与所述升压变压器的输出端连接，所述电流互感器与所述输出电流采样测量通道连接，所述输出电流采样测量通道与所述CPU连接；

所述电流互感器用于获取所述升压变压器的输出电流；

所述输出电流采样测量通道用于测量所述输出电流的电流值，并将所述电流值发送至所述CPU。

优选地，上述变比测试装置中，还包括：高压采样测量通道，所述高压采样测量通道用于与所述升压变压器输出端和CPU的高压检测端连接，用于测量所述升压变压器的输出电压值，并将所述输出电压值发送至CPU。

优选地，上述变比测试装置中，还包括：低压采样测量通道，所述低压采样测量通道用于与所述待测变压器低压侧和CPU的低压检测端连接，用于测量待测变压器低压侧的输入电压值，并将所述输入电压值发送至CPU。

优选地，上述变比测试装置中，所述DAC具体为AD5781；所述功率放大器具体为OPA548；所述CPU具体为STM32F103ZET6。

本申请还提供一种变比测试方法，应用于变比测试装置，