[发明专利]一种触发信号发送方向的同步校准装置和校准方法

说明书

一种触发信号发送方向的同步校准装置，该装置包括数字板模块和AC校准板模块；AC校准板模块包括第一数据接口、第一控制器和N块TDC芯片(tdc1、tdc2、…tdcN)；第一控制器控制N块TDC芯片(tdc1、tdc2、…tdcN)采集数据，以及控制第一数据接口将采集到的原始数据通过第一数据接口发送出去；数字板模块包括第二数据接口、第二控制器、通道映射关系表和M条数据通道(ch1、ch2、…chM)；第二控制器控制第二数据接口接收从第一数据接口发送的原始数据，根据通道映射关系表形成N块TDC芯片(tdc1、tdc2、…tdcN)的每个通道与M条数据通道(ch1、ch2、…chM)的连接关系，得到所述M条数据通道(ch1、ch2、…chM)中的延时数据并保存。

技术领域

本发明涉及半导体自动测试设备(Automatic Test Equipment，简称ATE)领域，尤其涉及一种在ATE半导体集成电路测试设备中触发信号发送方向同步校准的方法和校准设备。

背景技术

调节-校准(Adjustment Caliration，AC)为在规定条件下，为确定计测量仪器或测量系统所指示的量值，或实物量具或参考物质所代表的量值，与对应的由标准所复现的量值之间关系的一组操作。校准结果既可给出被测量的示值，又可确定示值的修正值。

发送方向同步校准板(AC校准板)是一种印刷电路板，AC校准板上搭载一块微控制单元(Microcontroller Unit，MCU)和多块时间数字转换器(Time to Digital Convert，TDC)芯片，TDC芯片的主要功能是用于测量多个通道信号触发的时间。

请参阅图1，图1所示为现有技术中AC校准板的每个通道与数字板通道的连接关系的示意图。如图1所示，该AC校准板包括20块TDC芯片(tdc1、tdc2、…tdc20)，每块TDC芯片的每个通道与数字板通道的连接关系主要表现为上述通道间的映射关系。在现有技术方案中，AC校准板与数字板通道间的映射关系通常保存AC校准板上，映射关系的处理也在AC校准板上进行。

然而，在实际使用中，不同类型的数字板在通道数量上不同，而且数字板通道与AC校准板通道间连接的映射关系存在较大的差异。尤其在软件处理上，在增加新类型的数字板时，需要修改AC校准板，以维护与不同单板间的通道映射关系表。因此，上述应用方式直接导致AC校准板在适配不同类型的数字板时比较困难，并且传统软件框架的设计难以满足同时适配多块不同数字板的需求。

发明内容

本发明的目的在于提供一种触发信号发送方向同步校准的测试装置和验证方法，用于解决现有技术中AC校准板在适配不同类型的数字板时比较困难的问题。

为实现上述目的，本发明的技术方案如下：

一种触发信号发送方向的同步校准装置，其包括数字板模块和AC校准板模块；

所述AC校准板模块包括第一数据接口、第一控制器和N块TDC芯片(tdc1、tdc2、…tdcN)；所述第一控制器控制所述N块TDC芯片(tdc1、tdc2、…tdcN)采集数据，以及控制所述第一数据接口将采集到的原始数据通过第一数据接口发送出去；

数字板模块包括第二数据接口、第二控制器，通道映射关系表和M条数据通道(ch1、ch2、…chM)；所述第二控制器控制所述第二数据接口接收从第一数据接口发送的原始数据，根据所述通道映射关系表形成所述N块

TDC芯片(tdc1、tdc2、…tdcN)的每个通道与M条数据通道(ch1、ch2、…chM)的连接关系，得到所述M条数据通道(ch1、ch2、…chM)中的延时数据并保存；其中，M和N大于等于1，M小于等于N块TDC芯片(tdc1、tdc2、…tdcN)的总通道数。

进一步地，在校准时，所述第二控制器控制根据所述通道映射关系表，得到所述AC校准板的配置信息，在触发测量时，将所述配置信息发送给所述AC校准板实现动态的配置。