[发明专利]一种设备测试方法、系统、装置及计算机可读存储介质

说明书

本申请公开了一种设备测试方法、系统、装置及计算机可读存储介质，该设备测试方法包括：根据接收到的测试指令识别设备的待测功能模块的测试参数；调用待测功能模块的测试脚本，并将测试参数写入测试脚本；运行测试脚本对待测功能模块进行测试，得到测试结果并提示；当测试结果存在异常，根据设备运行日志和测试日志确定待测功能模块的异常位置并提示。本申请相较于人工测试，测试自动化程度高，提高了测试效率，当测试出现错误时，根据设备运行日志和测试日志可以及时定位到待测功能模块出现错误的异常位置，提高测试的可靠性。

技术领域

本申请涉及设备测试领域，特别涉及一种设备测试方法、系统、装置及计算机可读存储介质。

背景技术

随着存储行业的发展，BMC(Baseboard Management Controller，基板管理控制器)作为带外管理中心，需要管理的硬件越来越多，BMC与OS(Operating System，操作系统)之间需要交互的信息越来越多。在开发阶段和生产阶段，目前都是人工对BMC各个功能模块进行测试，测试自动化程度低，在测试过程中，测试错误命令码不能够明显显示，且不能及时定位问题，效率慢。

因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是本领域技术人员目前需要解决的问题。

发明内容

本申请的目的是提供一种设备测试方法、系统、装置及计算机可读存储介质，相较于人工测试，测试自动化程度高，提高了测试效率，当测试出现错误时，根据设备运行日志和测试日志可以及时定位到待测功能模块出现错误的异常位置，提高测试的可靠性。

为解决上述技术问题，本申请提供了一种设备测试方法，该设备测试方法包括：

根据接收到的测试指令识别设备中的待测功能模块的测试参数；

调用所述待测功能模块的测试脚本，并将所述测试参数写入所述测试脚本；

运行所述测试脚本对所述待测功能模块进行测试，得到测试结果并提示；

当所述测试结果存在异常，根据设备运行日志和测试日志确定所述待测功能模块的异常位置并提示。

可选的，所述测试参数包括测试项目、和/或测试出错是否退出、和/或测试时间、和/或测试次数。

可选的，所述测试项目包括压力测试和/或接口测试。

可选的，当所述待测功能模块的个数为多个时，所述调用所述待测功能模块的测试脚本的过程包括：

按预设规则依次调用各个所述待测功能模块的测试脚本。

可选的，所述按预设规则依次调用各个所述待测功能模块的测试脚本的过程包括：

根据所述测试指令中确定的各个所述待测功能模块的测试先后顺序依次调用各个所述待测功能模块的测试脚本。

可选的，该设备测试方法还包括：

预先根据每一所述功能模块的名称及测试脚本的名称建立对应关系；

所述调用所述待测功能模块的测试脚本的过程包括：

根据所述对应关系调用所述待测功能模块的测试脚本。

可选的，所述设备为BMC。

为解决上述技术问题，本申请还提供了一种设备测试系统，该设备测试系统包括：

识别模块，用于根据接收到的测试指令识别设备中的待测功能模块的测试参数；

处理模块，用于调用所述待测功能模块的测试脚本，并将所述测试参数写入所述测试脚本；

测试模块，用于运行所述测试脚本对所述待测功能模块进行测试，得到测试结果并提示；