[发明专利]可调式快速插拔非接触PER测试装置

说明书

本发明就是要提供一种可调式快速插拔非接触PER测试装置，括测试支架及设于测试支架的非接触PER测试装置，其所述非接触PER测试装置包括准直器单元，光学器件与旋转器件固定单元；有效解决了传统PER测试装置对不同PM类产品的非通用型和测试过程中出现的产品端面损伤问题，两者之间的耦合容差过小导致PER测试数据精度不高等，测试方法简单，实用性强，成本低。

技术领域：

本发明涉及通信技术领域，主要是涉及一种有关在PM 产品PER测试，特别是一种可调式快速插拔非接触PER测试装置。

背景技术：

在光纤通信技术领域的传统的PER测试装置，在现实测试作业过程中很难实现非标准PM产品，短纤PM-FA类、特殊组件类等的测试。且传统PER测试装置测试短纤类产品时需要外接一根PM跳线连接进行接触式测试；但外接一个PM跳线接触式测试往往容易因对接导致测试插芯端面损伤或测试产品端面损伤且PM类产品PER的测试值准确性受外接PM跳线本身PER的干扰，测试产品PER准确性比较差，而且质量得不到保证。

另一方面，在传统的保偏类产品测试光源为ASE光源通过光纤出射经由聚焦透镜射入产品中，这样的话射入测试产品的光功率不是太小就是两者之间的耦合容差过小导致PER测试数据精度不高；传统的PER测试设备采用的偏振片，非偏光转变为线偏光，该器件存在体积较大、消光比比较低、无法起到光隔离效果等缺点。

如中国专利公布的类似这方面的专利文件，专利公告号为CN1106327019A《一种非接触式无损光纤跳线及制作方法》，具体公开的是一种非接触式无损光纤跳线及制作方法，包括陶瓷插芯、适配器金属外壳、陶瓷套筒、适配器段插芯、 光纤，所述陶瓷插芯和适配器段插芯的内部预埋 光纤，陶瓷插芯和适配器段插芯的一端对接，所述陶瓷插芯和适配器段插芯对接处的外部套设有陶瓷套筒，所述陶瓷套筒置于适配器金属外壳内，其特征在于：所述陶瓷插芯的端面沿光纤的外围设置有环形凹槽。本发明的优点是实现了跳 线与跳线，跳线与适配器中光纤端面之间的非接 触式对准，避免了光纤端面的对接损伤。从但上述所公开的技术方案可以看出，其是不能实现光线的自动准直对接和光线的偏振方式转变（非偏振光转化为偏振光），且不能改变线偏振光的方向从而不能实现对PM类产品的PER测试，且装置结构复杂，制备成本高。

还有如CN104301259A《一种适用于多跳无线mesh网络的资源分配方法》包括：获取多跳路径上每个节点的参数，计算多跳路径中的每一跳链路针对不同速率和不同帧长的特征参数，包括媒体接入时隙数和包错误率；以时隙占用最小为最优化目标，端到端PER为约束条件建立多选择背包问题的数学模型；根据动态规划方法将求解多选择背包问题转化成求解多阶段决策图；根据Dijkstra算法求解多阶段决策图获得最佳资源分配结果。与现有技术相比，本发明适用于多跳WMN网络的资源分配，由源节点进行资源分配，使用图论简化算法，减少资源分配的复杂度，得到可行的最优分配结果。

中国专利公告CN110662249A《用于对被测装置执行空中测试的系统及方法》，提供了一种用于对被测装置(dut(140))执行空中(OTA)测试的方法。该方法包括：当dut(140)处于信令模式时与dut(140)建立OTA连接，该OTA连接包括广播信道(37)和数据信道(37)；通过OTA连接的数据信道(37)以不同的发射功率向dut(140)发送通用唯一标识符(UUID)请求；响应于至少一些UUID请求，通过OTA连接的数据信道(37)从dut(140)接收UUID响应；以及基于接收到的响应的数量与发送的连接请求的数量的比率来确定从dut(140)接收到的UUID响应的误包率(PER)。所确定的PER指示dut(140)中的接收器的灵敏度。

从上述所公开的光纤跳线测试或保偏类产品测试的技术方案可以看出，其均不能实现对PM 产品PER测试，而现有的技术要么就是射入测试产品的光功率不是太小，或者是两者之间的耦合容差过小导致PER测试数据精度不高；其结构不能确保光源出射光与测试产品保持高度一致的同心度，且针对不同的测试产品类型设计对应的隔离器固定套筒装置，并且不确保不同测试产品的测试装置做快速切换。