[发明专利]雷击地电位抬升测试方法

说明书

本发明属于地电位抬升测试领域，尤其是一种雷击地电位抬升测试方法，针对现有的不能够对电子器件的地电位抬升能力进行预估，不便于对地电位抬升能力进行检测的问题，现提出如下方案，其包括以下步骤：S1、检测器件性能，根据性能预估抬升能力，并建立曲线变化图；S2、多次考核地电位抬升能力，并与预估的数据进行对比，计算差异度；S3、如差异在设定范围内，则预估数据准确；S4、如某次考核数据超出设定范围，则首先判断考核是否准确，如考核准确，则预估数据有误，需对预估进行调整，S5、再次考核，本发明可以对电子器件的地电位抬升能力进行预估，对地电位抬升能力进行检测。

技术领域

本发明涉及地电位抬升测试技术领域，尤其涉及一种雷击地电位抬升测试方法。

背景技术

地电位抬升是指因为电力故障或者近距离雷击使地表面瞬间产生高电位，地电位抬升具有一定的危害，它会引起地电位反击，破坏地电位抬升范围内的电子及金属设备。当人处于地电位抬升范围内时，可能产生跨步电压，危及生命安全。目前采用较多的预防地电位抬升危害的方法为：设置独立地网，采取绝缘、隔离等防护措施。

现有技术中，不能够对电子器件的地电位抬升能力进行预估，不便于对地电位抬升能力进行检测，因此我们提出了雷击地电位抬升测试方法，用来解决上述问题。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有技术中存在不能够对电子器件的地电位抬升能力进行预估，不便于对地电位抬升能力进行检测的缺点，而提出的雷击地电位抬升测试方法。

为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：

雷击地电位抬升测试方法，包括以下步骤：

S1、检测器件性能，根据性能预估抬升能力，并建立曲线变化图；

S2、多次考核地电位抬升能力，并与预估的数据进行对比，计算差异度；

S3、如差异在设定范围内，则预估数据准确；

S4、如某次考核数据超出设定范围，则首先判断考核是否准确，如考核准确，则预估数据有误，需对预估进行调整；

S5、再次考核，直至连续多次考核数据与预估数据的差异在设定范围内。

优选的，所述S1中，检测器件性能，对器件性能数据进行记录，在数据库中输入记录的数据，获取该数据对应的抬升能力，对此抬升能力数据进行提取，根据此数据预估抬升能力。

优选的，所述S2中，多次考核抬升能力，每次考核间隔1-10min，对每次考核的数据进行记录，先进行考核数据的对比，然后再将考核数据与预估的数据进行对比。

优选的，所述S2中，多次考核抬升能力，对考核点进行标记，考核完成一次后，更换考核点。

优选的，所述S5中，将考核的器件性能数据，考核的地电位抬升能力与预估的数据上传至数据库进行存储。

优选的，所述S2中，多次考核地电位抬升能力，同一位置每次考核获取2-4组数据，对2-4组数据进行记录，并分析数据之前是否存在差异。

优选的，所述S2中，考核时，对器件的工作电平进行获取，将考核时的电平与器件平时工作的电平进行对比，判断器件是否正常。

优选的，所述S5中，考核完成后，对器件的工作状态进行监测，监测时间12-24h。

与现有技术相比，本发明的有益效果在于：