[发明专利]参数化单元数据更新方法、装置、计算机设备和存储介质有效
申请号: | 202111408001.6 | 申请日: | 2021-11-25 |
公开(公告)号: | CN113868280B | 公开(公告)日: | 2022-03-25 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 芯和半导体科技(上海)有限公司 |
主分类号: | G06F16/23 | 分类号: | G06F16/23 |
代理公司: | 上海乐泓专利代理事务所(普通合伙) 31385 | 代理人: | 王瑞 |
地址: | 201210 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 参数 单元 数据 更新 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
本发明适用于版图设计与仿真领域部分,提供了一种参数化单元数据更新方法、装置、计算机设备和存储介质,所述方法包括:根据基础图元的状态标识确认目标基础图元,所述基础图元为组成参数化单元的最小图元,所述状态标识用于标识图元的配置参数与属性数据是否一致,所述配置参数用于指定所述图元的属性数据;根据所述配置参数更新所述目标基础图元的属性数据;根据所述目标基础图元的属性数据迭代更新所述参数化单元的属性数据。本发明通过对基础图元引入状态标识,进而找出需要进行更新的目标基础图元,在对这些目标基础图元进行属性数据的更新,避免了对未更改配置的基础图元的属性数据的更新,使整个参数化单元的更新速度更快,更新效率更高。
技术领域
本发明涉及版图设计与仿真领域,特别是涉及一种参数化单元数据更新方法、装置、计算机设备和存储介质。
背景技术
PDK(Process Design Kit,工艺设计套件),它是沟通IC设计公司、代工厂与EDA(Electronic design automation,电子设计自动化)厂商的桥梁。具体来说,PDK是一组描述半导体工艺细节的文件,供芯片设计EDA工具使用。客户会在投产前使用晶圆厂的PDK,确保晶圆厂能够基于客户的设计生产芯片,保证芯片的预期功能和性能。所以,开始采用新的半导体工艺时,首先要做的事就是开发一套PDK,PDK用代工厂的语言定义了一套反映Foundary(芯片制造)工艺的文档资料,是设计公司用来做物理验证的基石,也是流片成败关键的因素。PDK 中包含有Pcell文件,Pcell(Parameterized Cell,参数化单元),描述晶体管(及其他器件)的可能定制方法,供设计师在EDA工具中使用;Pcell也就是参数化单元,可以看作是一种可编程单元,允许用户通过定义参数创建实例。
参数化单元在EDA软件中是一个可变参的,能够实时显示的以及可以仿真的数据块。参数化单元由基础的图元经过操作、编辑生成,生成的参数化单元可被调用,在用户创建或使用参数化单元时,可对参数化单元的属性进行配置,当参数化单元的配置参数变化时,这时需要对参数化单元的属性数据进行更新,以生成当前所需的参数化单元;现有技术在更新数据时,需要对组成参数化单元的基础图元进行逐一更新迭代,使参数化单元更新至最新状态。
现有技术的更新过程较为繁琐,当复杂的参数化单元只有几个基础图元的参数变化时,现有技术的数据的更新效率较低。
发明内容
基于此,有必要针对上述的问题,提供一种参数化单元数据更新方法、装置、计算机设备和存储介质。
在其中一个实施例中,提供一种参数化单元数据更新方法,所述方法包括:
根据基础图元的状态标识确认目标基础图元,所述基础图元为组成参数化单元的最小图元,所述状态标识用于标识图元的配置参数与属性数据是否一致,所述配置参数用于指定所述图元的属性数据;
根据所述配置参数更新所述目标基础图元的属性数据;
根据所述目标基础图元的属性数据迭代更新所述参数化单元的属性数据。
在其中一个实施例中,提供一种参数化单元数据更新装置,包括:
目标基础图元确认模块,用于根据基础图元的状态标识确认目标基础图元,所述基础图元为组成参数化单元的最小图元,所述状态标识用于标识图元的配置参数与属性数据是否一致,所述配置参数用于指定所述图元的属性数据;
属性数据更新模块,用于根据所述配置参数更新所述目标基础图元的属性数据;以及
迭代更新模块,用于根据所述目标基础图元的属性数据迭代更新所述参数化单元的属性数据。
在其中一个实施例中,提供一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器中存储有计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时,使得所述处理器执行上述参数化单元数据更新方法的步骤。
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