[发明专利]基于多参考基点的三维激光中心测距方法、系统及终端

权利要求书

1.基于多参考基点的三维激光中心测距方法，其特征是，包括以下步骤：

通过中心激光测距器采集目标点的中心测距信息，并将中心测距信息转为中心测距向量；

根据中心测距向量确定分布在中心激光测距器四周的边缘激光测距器的测距角度，并通过边缘激光测距器采集目标点的边缘测距信息，以及将边缘测距信息转为边缘测距向量；

根据多个边缘测距向量之和计算得到标准测距向量，并以中心测距向量在标准测距向量的投影作为最终测距向量的模；

根据标准测距向量与中心测距向量之和计算得到参考测距向量，并以参考测距向量的方向作为最终测距向量的方向；

将最终测距向量的模与方向融合后得到表征最终测距信息的最终测距向量。

2.根据权利要求1所述的基于多参考基点的三维激光中心测距方法，其特征是，多个所述边缘激光测距器的测距线路呈三维立体分布，且中心激光测距器的测距线路位于多个边缘激光测距器对应测距线路所覆盖的三维立体空间内。

3.根据权利要求1所述的基于多参考基点的三维激光中心测距方法，其特征是，所述边缘激光测距器的测距角度计算公式具体为：

其中，表示边缘激光测距器与中心激光测距器的测距方向夹角，即边缘激光测距器的测距角度；表示中心测距向量；表示边缘激光测距器到中心激光测距器的直线距离。

4.根据权利要求1-3任意一项所述的基于多参考基点的三维激光中心测距方法，其特征是，该方法还包括：依据中心测距向量、标准测距向量相对于各个边缘测距向量的偏移向量对最终测距向量的模进行路径误差校准处理。

5.根据权利要求4所述的基于多参考基点的三维激光中心测距方法，其特征是，所述最终测距向量的模进行路径误差校准处理的过程具体为：

根据边缘测距向量与中心测距向量之差，得到对应边缘激光测距器的实测偏移向量；

在标准测距向量上截取与中心测距向量的模一致的向量作为标准测距向量的基准向量，并根据边缘测距向量与基准向量之差，得到对应边缘激光测距器的理论偏移向量；

根据理论偏移向量与实测偏移向量之和计算得到相应边缘激光测距器的偏移量差；

以偏移量差与标准测距向量的单位向量之间的向量积作为对应边缘激光测距器的误差校准量；

根据最终测距向量的模与将所有误差校准量之和的差计算得到校准后的最终测距向量。

6.根据权利要求4所述的基于多参考基点的三维激光中心测距方法，其特征是，所述最终测距向量的模进行路径误差校准处理的计算公式为：

其中，表示校准后最终测距向量的模；表示中心测距向量；表示中心测距向量与标准测距向量的夹角度数；表示边缘激光测距器的数量；表示第个边缘激光测距器的校正系数；表示第个边缘激光测距器对应的边缘测距向量；表示基准向量；表示标准测距向量的单位向量。

7.根据权利要求6所述的基于多参考基点的三维激光中心测距方法，其特征是，所述校正系数与边缘测距向量、标准测距向量之间的角度度数呈正相关。

8.根据权利要求7所述的基于多参考基点的三维激光中心测距方法，其特征是，所述校正系数的计算公式具体为：

其中，表示边缘激光测距器的测距角度；表示标准测距向量。