[发明专利]异常灯点检测方法、显示装置和存储介质

说明书

本申请涉及显示技术领域，特别是涉及一种异常灯点检测方法、显示装置、计算机设备和存储介质，所述方法包括：依次以显示装置的任一灯点为目标灯点，以目标灯点为中心灯点设定预设区域，并基于预设区域中各灯点与目标灯点的初始校正系数的差值以及预设区域中各灯点与目标灯点的距离值确定目标灯点的异常指标；基于各目标灯点的异常指标与预设阈值的比较结果，确定第一异常灯点掩码图；基于第一异常灯点掩码图的连通域检测结果，确定异常灯点的位置。本发明利用预设区域内目标灯点的异常指标，并利用连通域检测能够快速准确的确定异常灯点。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，特别是涉及一种异常灯点检测方法、显示装置和存储介质。

背景技术

LED显示屏是由若干个LED显示模块组成，一般LED显示屏会在出厂前或现场对LED显示模块进行单箱体校正或整屏校正。而当使用的各种成像设备的感光元件在长时间的使用过程中会积下灰尘或者屏体校正时LED灯点上存在灰尘但校正之后清洗LED显示屏后存在灰尘的LED灯点会偏亮、校正时LED灯点不亮或亮度过低但校正之后更换LED灯点后该位置的LED灯点会偏亮，这样在校正采集图像数据时，有些LED灯点的亮度就会受到以上几种情况的影响，导致采集到的亮度比实际灯点的亮度低，最终计算LED灯点校正系数时会给一个较大的校正系数值，所以在启用校正的情况下，这个LED灯点实际比其它LED灯点的亮度高，最终导致整个LED显示屏的均匀性大打折扣。

现有技术通常为人工使用眼睛去找到异常灯点在LED显示屏上的位置，再手动去调节该LED灯点的校正系数，但是利用人眼找所有异常灯点的位置比较困难，而且耗时较长。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种异常灯点检测方法、显示装置和存储介质。

第一方面，本发明实施例提出一种异常灯点检测方法，应用于显示装置，所述方法包括：

依次以显示装置的任一灯点为目标灯点，以目标灯点为中心灯点设定预设区域，并基于预设区域中各灯点与目标灯点的初始校正系数的差值以及预设区域中各灯点与目标灯点的距离值确定目标灯点的异常指标；

基于各目标灯点的异常指标与预设阈值的比较结果，确定第一异常灯点掩码图；

基于第一异常灯点掩码图的连通域检测结果，确定异常灯点的位置。

在一实施例中，所述基于预设区域中各灯点与目标灯点的初始校正系数的差值以及预设区域中各灯点与目标灯点的距离值确定目标灯点的异常指标包括：

基于预设区域中各灯点与目标灯点的初始校正系数的差值以及预设区域中各灯点与目标灯点的距离值，确定预设区域中各灯点的权重；

基于预设区域中各灯点的权重以及目标灯点的初始校正系数，确定目标灯点的异常指标。

在一实施例中，所述基于预设区域中各灯点的权重以及目标灯点的初始校正系数，确定目标灯点的异常指标包括：

基于预设区域中各灯点的权重，获得预设区域内所有灯点权重的权重和W_sum；

所述目标灯点的异常指标采用以下公式计算得到：

Index＝W_sum*(1-X_(i，j))；

其中，Index表示异常指标，X_(i，j)表示目标灯点的校正系数，(i，j)表示目标灯点的坐标。

在一实施例中，在所述确定第一异常灯点掩码图之后，所述方法还包括：

对第一异常灯点掩码图进行腐蚀再膨胀处理，获得第二异常灯点掩码图；

基于第二异常灯点掩码图的连通域检测结果，确定异常灯点的位置。