[发明专利]一种测斜方位数据的校正方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种测斜方位数据的校正方法，其特征在于，包括：

获取设定采样时间内的传感器数据，所述传感器数据包括磁通门传感器数据和加速度传感器数据，所述磁通门传感器数据包括磁表X分量数据、磁表Y分量数据和磁表Z分量数据，所述加速度传感器数据包括加表X分量数据、加表Y分量数据和加表Z分量数据；

对所述传感器数据进行滤波及校正处理，获得目标传感器数据；

根据所述目标传感器数据，结合设定公式，确定校正后的测斜方位数据。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对所述传感器数据进行滤波及校正处理，获得目标传感器数据，包括：

对所述传感器数据进行低通滤波及限幅滤波处理，获得滤波传感器数据；

对所述滤波传感器数据进行校正处理，获得目标传感器数据。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，对所述传感器数据进行低通滤波及限幅滤波处理，获得滤波传感器数据，包括：

根据设定截止频率，对所述传感器数据进行低通滤波处理，获取频率小于等于所述设定截止频率的低频传感器数据；

对所述低频传感器数据中的磁表Z分量数据和加表Z分量数据进行限幅滤波处理，将限幅滤波处理后的低频传感器数据确定为所述滤波传感器数据。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，对所述滤波传感器数据进行校正处理，获得目标传感器数据，包括：

针对所述滤波传感器数据中的磁表X分量数据、磁表Y分量数据、加表X分量数据和加表Y分量数据，分别绘制原始磁表X-Y分量散点图和原始加表X-Y分量散点图；其中，所述原始磁表X-Y分量散点图中的每一个点的横纵坐标值分别为同一次采样中的磁表X分量数据和磁表Y分量数据，所述原始加表X-Y分量散点图中的每一个点的横纵坐标值分别为同一次采样中的加表X分量数据和加表Y分量数据；

对所述原始磁表X-Y分量散点图和原始加表X-Y分量散点图分别进行圆方程拟合，确定原始磁表圆和原始加表圆；

根据所述原始磁表圆和原始加表圆进行圆校正，令所述原始磁表X-Y分量散点图中的各点分布在标准磁表圆上，所述原始加表X-Y分量散点图中的各点分布在标准加表圆上；其中，所述标准磁表圆和标准加表圆的圆心为坐标原点，所述标准磁表圆和标准加表圆的半径分别为所述原始磁表圆和原始加表圆的半径；

根据所述标准磁表圆和标准加表圆进行夹角校正，令夹角校正后的标准磁表圆和标准加表圆之间的夹角为设定值；

将夹角校正后的标准磁表圆和标准加表圆对应的标准磁表X分量数据、标准磁表Y分量数据和标准磁表Z分量数据、标准加表X分量数据、标准加表Y分量数据和标准加表Z分量数据确定为所述目标传感器数据。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据所述原始磁表圆和原始加表圆进行圆校正，包括：

根据所述原始磁表圆和原始加表圆，分别对所述原始磁表X-Y分量散点图和原始加表X-Y分量散点图中的各点进行圆心校正，令圆心校正后的原始磁表X-Y分量散点图和原始加表X-Y分量散点图中的各点对应的圆心为原点；

分别对所述圆心校正后的原始磁表X-Y分量散点图和原始加表X-Y分量散点图中的各点进行半径校正，令半径校正后的原始磁表X-Y分量散点图和原始加表X-Y分量散点图中的各点与原点的距离分别为所述原始磁表圆和原始加表圆的半径。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，分别对所述原始磁表X-Y分量散点图和原始加表X-Y分量散点图中的各点进行圆心校正，包括：

根据所述原始磁表圆和原始加表圆，分别确定磁表圆心坐标及加表圆心坐标；

根据所述磁表圆心坐标与原点坐标及加表圆心坐标与原点坐标之间的偏差，分别确定磁表圆心偏移量和加表圆心偏移量；

根据所述磁表圆心偏移量和加表圆心偏移量，分别移动所述原始磁表X-Y分量散点图和原始加表X-Y分量散点图中的各点。