[发明专利]一种提高电阻采样电流精度的方法在审
| 申请号： | 202111344908.0 | 申请日： | 2021-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN114137278A | 公开（公告）日： | 2022-03-04 |
| 发明（设计）人： | 吴定祥 | 申请（专利权）人： | 长沙智汇芯智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00;G01R1/20;G01K7/22 |
| 代理公司： | 深圳峰诚志合知识产权代理有限公司 44525 | 代理人： | 陈列生;覃业军 |
| 地址： | 410000 湖南省长沙市高新开发区麓谷大*** | 国省代码： | 湖南;43 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 提高 电阻 采样 电流 精度 方法 | ||
1.一种提高电阻采样电流精度的方法，其特征在于：包括电流采样电阻单元、电流采样电阻的加热单元、温度采样单元、恒温控制单元，所述电流采样电阻单元设有电流采样电阻的加热单元和温度采样单元，所述恒温控制单元分别与电流采样电阻的加热单元、温度采样单元线路连接，所述温度采样单元将电流采样电阻单元的温度采样并输入恒温控制单元，所述恒温控制单元控制电流采样电阻的加热单元对电流采样电阻单元加热。
2.根据权利要求1所述的一种提高电阻采样电流精度的方法，其特征在于：所述电流采样电阻单元的本体温度为电路的控制对象。
3.根据权利要求1所述的一种提高电阻采样电流精度的方法，其特征在于：所述电流采样电阻的加热单元为受控发热的电阻或半导体器件，所述电流采样电阻的加热单元是给电流采样电阻单元本体加热的电路单元。
4.根据权利要求1所述的一种提高电阻采样电流精度的方法，其特征在于：所述温度采样单元为温度检测电路，所述温度采样单元为NTC或PTC或半导体温度传感器，所述温度采样单元是采集电流采样电阻单元的本体温度的电路单元。
5.根据权利要求1所述的一种提高电阻采样电流精度的方法，其特征在于：所述恒温控制单元是电流采样电阻的加热单元对电流采样电阻单元加热的控制结构，所述恒温控制单元对电流采样电阻的加热单元的控制方式为受控的半导体模拟连续的功率加热方式或脉宽调制而产生等效如模拟连续的功率加热方式。
6.根据权利要求1所述的一种提高电阻采样电流精度的方法，其特征在于：所述电流采样电阻单元的本体温度适用范围为55摄氏度到105摄氏度。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长沙智汇芯智能科技有限公司，未经长沙智汇芯智能科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111344908.0/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
