[发明专利]用于ATE测试机接口板卡连接器导通的测试装置和测试方法

说明书

一种用于ATE测试机接口板卡连接器导通的测试装置和测试方法，该装置包括待测PCB板卡、连接器对接线缆、探针治具、控制及测试中心和用于短路和导通测试时进行相关的测量工作的仪表。因此，本发明通过自动对待测PCB板卡各数据通道和引脚通道的接触连接是否会出现短路和断路的现象的测量与筛选，提高了测试的效率，增加了待测PCB板卡压接连接器后的可靠性。

技术领域

本发明涉及半导体自动测试设备(Automatic Test Equipment，简称ATE)领域，尤其涉及一种用于ATE测试机接口板卡连接器导通的测试装置和测试方法。

背景技术

在集成电路设计和制造阶段，需要验证方案是否能够达到设计要求，或者在产品使用中是否能够正常地工作，测试测量设备必不可少。为了满足测试的要求，测试和测量设备在高精度、高速、可靠性、小型化和可扩展性方面的特征变得越来越重要。尤其是对测试和测量的可靠性更敏感的应用中，测试和测量设备必须足够可靠以承受测试。

为了满足当今测试和测量设备发展的要求，连接器的发展方向具有几个明显的特征：

①、更高的互连性能：信号连接器将追求更高的数据传输速率；

②、更高的连接密度：在不影响互连性能的基础上，最小化板卡连接器引脚间距，外壳宽度和堆叠高度，以最大程度地提高单位空间中的连接密度。

也就是说，现有测试设备信号外接板卡连接器呈现通道数越来越多，分布越来越密的情况。目前，主要是通过压接单元让连接器和PCB板卡连接，现有检查工艺主要针对压接完成后的压接外观尺寸等进行检查，再有就是使用万用表进行点测。

然而，如果板卡连接器具有的通道数多，上述的人工测试不仅浪费人工和时间，还容易出错，甚至在点测的时候表笔还存在损坏板卡连接器和PCB金手指的风险。业界普遍存在不测试，直接在客户端进行使用的情况，即通过实际使用是否有问题来反向推导前期压接工艺是否有问题，这种测试方法在实际使用中存在很大的风险。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于ATE测试机接口板卡连接器导通的测试方法，其可以解决板卡连接器和PCB接口板卡在压接后不能快速测试的问题。为实现上述目的，本发明的技术方案如下：

一种用于ATE测试机接口板卡连接器导通的测试装置，其包括：

待测PCB板卡，所述的待测PCB板卡包括多个电路布图层、压接单元、M1*N1的PCB金手指阵列和具有M2*N2个数据通道的连接器，所述PCB金手指阵列包括M1*N1个引脚通道；所述压接单元将所述连接器的一端和PCB板卡压接在一起；其中，M1、N1、M2和N2为正整数；

连接器对接线缆，同所述连接器另一端的各数据通道对应连接；

探针治具，用于同所述M1*N1的PCB金手指阵列的各引出通道触点相连接；

控制及测试中心，同所述探针治具和测试仪表相连，用于控制所述测试仪表对M2*N2个数据通道的短路测试和对所述M1*N1的PCB金手指阵列的各引出通道的断路测试；其中，所述各引出通道通过一预设电阻R同所述控制及测试中心相连，所述短路测试为对所述M2*N2个数据通道中相邻的两个通道间的短路状态测试。

进一步地，所述控制及测试中心包括测试模式选择模块、测试执行模块和判断模块；所述测试模式选择模块用于选择当前的测试是短路测试还是断路测试；其中，如果是处于短路测试模式，所述测试执行模块将所述M2*N2个数据通道中相邻的两个通道形成测试组，按所述测试组的顺序将所述M2*N2个数据通道中相邻的两个通道间的短路状态进行测试，并将测试结果发送到所述判断模块，所述判断模块根据所述测试仪表检测到的阻值，判断是否有短路的通道；如果是处于断路测试模式，所述测试执行模块依次将所述M1*N1的PCB金手指阵列的各引出通道的断路状态进行测试，并将测试结果发送到所述判断模块，所述判断模块根据所述测试仪表检测到的阻值，判断是否有断路的通道。