[发明专利]控制装置、非接触供电诊断程序以及非接触供电系统在审
申请号: | 202111282281.0 | 申请日: | 2021-11-01 |
公开(公告)号: | CN114454740A | 公开(公告)日: | 2022-05-10 |
发明(设计)人: | 桥本俊哉;木邨绫乃;盐泽光;小川宙哉;间庭佑太 | 申请(专利权)人: | 丰田自动车株式会社 |
主分类号: | B60L53/122 | 分类号: | B60L53/122;B60L53/62;B60L53/68 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 张洁;段承恩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 控制 装置 接触 供电 诊断 程序 以及 供电系统 | ||
1.一种控制装置,
具备处理器,所述处理器构成为,基于通过经由非接触式供电装置的供电线圈的供电而在非接触式受电装置的受电线圈中流通的感应电流,判定所述非接触式供电装置是否正常。
2.根据权利要求1所述的控制装置,
所述处理器,
在所述感应电流大于第1阈值的情况下,判定为所述非接触式供电装置正常;
在所述感应电流为所述第1阈值以下的情况下,判定为所述非接触式供电装置发生了故障。
3.根据权利要求1所述的控制装置,
所述处理器,
在所述感应电流大于第1阈值的情况下,判定为所述非接触式供电装置正常;
在所述感应电流为所述第1阈值以下且所述供电线圈与所述受电线圈之间不存在异物的情况下,判定为所述非接触式供电装置发生了故障。
4.根据权利要求3所述的控制装置,
所述处理器,
在所述感应电流为所述第1阈值以下且为第2阈值以下的情况下,判定为在所述供电线圈与所述受电线圈之间存在所述异物,所述第2阈值小于所述第1阈值;
在所述感应电流为所述第1阈值以下且大于所述第2阈值的情况下,判定为在所述供电线圈与所述受电线圈之间不存在所述异物。
5.根据权利要求3所述的控制装置,
所述处理器基于对所述供电线圈与所述受电线圈之间进行拍摄得到的图像,判定在所述供电线圈与所述受电线圈之间是否存在所述异物。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的控制装置,
所述处理器基于在使所述非接触式供电装置供给了异物检测用电力时流通于所述受电线圈的所述感应电流,判定所述非接触式供电装置的异物检测功能是否正常。
7.一种非接触供电诊断程序,使处理器执行:
基于通过经由非接触式供电装置的供电线圈的供电而在非接触式受电装置的受电线圈中流通的感应电流,判定所述非接触式供电装置是否正常。
8.根据权利要求7所述的非接触供电诊断程序,使所述处理器执行:
在所述感应电流大于第1阈值的情况下,判定为所述非接触式供电装置正常;
在所述感应电流为所述第1阈值以下的情况下,判定为所述非接触式供电装置发生了故障。
9.根据权利要求7所述的非接触供电诊断程序,使所述处理器执行:
在所述感应电流大于第1阈值的情况下,判定为所述非接触式供电装置正常;
在所述感应电流为所述第1阈值以下且所述供电线圈与所述受电线圈之间不存在异物的情况下,判定为所述非接触式供电装置发生了故障。
10.根据权利要求9所述的非接触供电诊断程序,使所述处理器执行:
在所述感应电流为所述第1阈值以下且为第2阈值以下的情况下,判定为在所述供电线圈与所述受电线圈之间存在所述异物,所述第2阈值小于所述第1阈值;
在所述感应电流为所述第1阈值以下且大于所述第2阈值的情况下,判定为在所述供电线圈与所述受电线圈之间不存在所述异物。
11.根据权利要求9所述的非接触供电诊断程序,使所述处理器执行:
基于对所述供电线圈与所述受电线圈之间进行拍摄得到的图像,判定在所述供电线圈与所述受电线圈之间是否存在所述异物。
12.根据权利要求7至11中任一项所述的非接触供电诊断程序,使所述处理器执行:
基于在使所述非接触式供电装置供给了异物检测用电力时流通于所述受电线圈的所述感应电流,判定所述非接触式供电装置的异物检测功能是否正常。
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