[发明专利]一种材料成像方法、装置、终端设备及存储介质

说明书

本申请适用于光学成像技术领域，提供了一种材料成像方法、装置、终端设备及存储介质。本申请实施例中以预设的目标扫描方式向上述目标材料发出太赫兹波，根据上述太赫兹波确定上述目标材料内检测点的初始位置信息和上述检测点对应的目标材料表面位置；根据上述目标材料表面位置对上述初始位置信息进行折射率校正，得到上述检测点的目标位置信息；根据上述目标位置信息构建上述目标材料的成像结果，从而通过准确根据材料内部的成像结果来确定材料是否存在结构性缺陷，进而避免了存在结构性缺陷的材料被应用时引发严重事故的状况。

技术领域

本申请属于光学成像技术领域，尤其涉及一种材料成像方法、装置、终端 设备及存储介质。

背景技术

随着材料技术的快速发展，越来越多的具有物理性能或化学性能的材料被 应用于生活中的各个领域。但材料在生产、运输、运行等过程中可能会存在外 力破坏、生产工艺不达标、操作失误等状况，而该状况则会导致材料的内部出 现气隙、孔洞、裂痕、夹杂等结构性缺陷，该缺陷仅从外观上分析是无法鉴别。

而如果存在结构性缺陷的材料被应用于对材料质量要求较高的领域，例如， 航天航空、电力电气等领域，就容易引发严重事故，例如，重大的经济损失、 人员伤亡等。因此，如何确定材料是否存在结构性缺陷成为当下的重中之重。

发明内容

本申请实施例提供了一种材料成像方法、装置、终端设备及存储介质，可 以解决存在结构性缺陷的材料被应用时引发严重事故的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种材料成像方法，包括：

以预设的目标扫描方式向上述目标材料发出太赫兹波，根据上述太赫兹波 确定上述目标材料内检测点的初始位置信息和上述检测点对应的目标材料表面 位置；

根据上述目标材料表面位置对上述初始位置信息进行折射率校正，得到上 述检测点的目标位置信息；

根据上述目标位置信息构建上述目标材料的成像结果。

第二方面，本申请实施例提供了一种材料成像装置，包括：

位置确定模块，用于以预设的目标扫描方式向上述目标材料发出太赫兹波， 根据上述太赫兹波确定上述目标材料内检测点的初始位置信息和上述检测点对 应的目标材料表面位置；

校正模块，用于根据上述目标材料表面位置对上述初始位置信息进行折射 率校正，得到上述检测点的目标位置信息；

成像结果构建模块，用于根据上述目标位置信息构建上述目标材料的成像 结果。

第三方面，本申请实施例提供了一种终端设备，包括存储器、处理器以及 存储在上述存储器中并可在上述处理器上运行的计算机程序，上述处理器执行 上述计算机程序时实现上述任一种材料成像方法的步骤。

第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，上述计算机可 读存储介质存储有计算机程序，上述的计算机程序被处理器执行时实现上述任 一种材料成像方法的步骤。

第五方面，本申请实施例提供了一种计算机程序产品，当计算机程序产品 在终端设备上运行时，使得终端设备执行上述第一方面中任一种材料成像方法。

本申请实施例中以预设的目标扫描方式向上述目标材料发出太赫兹波，从 而探测目标材料的内部结构，以根据上述太赫兹波确定上述目标材料内检测点 的初始位置信息和上述检测点对应的目标材料表面位置，即根据上述检测点可 以得到目标材料的内部结构，再根据上述目标材料表面位置对上述初始位置信 息进行折射率校正，得到上述检测点的目标位置信息，以提高目标材料内部的 检测点位置的准确性，从而致使校正后的目标材料的内部结构更符合实际，最 后根据上述目标位置信息构建上述目标材料的成像结果，从而准确得到包含材 料内部结构的成像结果，以通过该成像结果来确定材料是否存在结构性缺陷， 进而避免了存在结构性缺陷的材料被应用时引发严重事故的状况。