[发明专利]一种远端内存映射检测系统和服务器

说明书

本发明提供一种远端内存映射检测系统和服务器，系统包括：控制模块；内存映射模块；本地内存模块；其中，内存映射模块分别与控制模块和本地内存模块相连，并且配置用于与远端内存建立连接，获取远端内存的结构，并将远端内存的结构发送到本地内存模块和控制模块；本地内存模块配置用于接收所述内存映射模块发送的远端内存的结构，并根据远端内存的结构在本地建立与远端内存相同的本地内存结构；控制模块配置用于根据远端内存的结构生成内存检测向量，并通过内存检测向量对本地内存模块中建立的所述本地内存结构进行内存向量检测。发明设计有PCIe映射测试主板存储器件，速率快，准确度高。

技术领域

本发明涉及芯片设计领域，具体涉及一种远端内存映射检测系统和服务器。

背景技术

由于FPGA具有速度快、效率高、灵活稳定、集成度高等优点，所以在硬件逻辑验证与设计中是十分必要的。BIST是一种结构性DFT技术，它将器件的测试结构置于该器件内部。BIST结构可以测试多种类型的电路，包括随机逻辑器件和规整的电路结构如数据通道、存储器等。BIST结构可以针对目标电路自动生成各种测试向量，并对输出响应进行比较。目标电路的类型也呈现多样化特征，它可以是整个芯片设计，也可以是设计模块或设计模块中的某个结构。在FPGA及ASIC设计中，PCIe总线因为其高速串行、点对点、多通道等特性被广泛应用，但在其应用层，无法建立起MBIST与PCIe BAR的内存映射，且无法通过远端测试内存，导致现有技术中对内存的检测存在以下缺陷：1.硬件必须内嵌于RAM控制器中，不可更改，以及被访问；2.添加远端设备时，主CPU不可访问从设备自检bist寄存器；3.若出现存储器问题，仅可自身自检，debug方式单一；4.出现问题启动自修复时，仅能通过固化好的算法，不可重构。

因此，亟需一种有效的解决方案以提供更灵活方便的内存测试功能。

发明内容

为解决以上问题，本发明提出一种远端内存映射检测系统，其包括：

控制模块；

内存映射模块；

本地内存模块；

其中，所述内存映射模块分别与所述控制模块和本地内存模块相连，并且配置用于与远端内存建立连接，获取所述远端内存的结构，并将所述远端内存的结构发送到所述本地内存模块和控制模块；

所述本地内存模块配置用于接收所述内存映射模块发送的所述远端内存的结构，并根据所述远端内存的结构在本地建立与所述远端内存相同的本地内存结构；

所述控制模块配置用于根据所述远端内存的结构生成内存检测向量，并通过所述内存检测向量对所述本地内存模块中建立的所述本地内存结构进行内存向量检测。

在本发明的一些实施方式中，内存映射模块包括：

交换模块，所述交换模块配置用于确定所述远端内存的待测区域及获取所述待测区域的测试结果；以及

锁定目标映射模块，所述锁定目标映射模块配置用于与所述远端内存的待测区域建立映射并获取所述远端内存的结构。

在本发明的一些实施方式中，控制模块包括：

本地存储器，所述本地存储器配置用于存储向量产生策略及内存检测结果；

向量产生电路，所述向量产生电路配置用于，根据所述本地存储器中的向量产生策略产生内存检测向量。

在本发明的一些实施方式中，控制模块还包括：

MBIST控制电路，所述MBIST控制电路配置用于接收测试信号并使能所述向量产生电路。

在本发明的一些实施方式中，控制模块还包括：