[发明专利]读写校准方法和电路

说明书

本申请提出一种读写校准方法和电路，该方法包括：根据读写一致性数据对工作于不同的第一相位下的存储控制器的读写准确性分别进行验证，第一相位为提供给所述存储控制器的第一时钟信号的相位；当验证通过时，将第一相位与第二相位的相位差作为候选相位差，其中，第二相位为提供给所述存储模块的第二时钟信号的相位；按照预设规则从候选相位差中选取一目标相位差，对存储控制器的第一时钟信号进行调节，使存储控制器工作在目标相位差对应的第一相位下。本申请通过自动调节第一相位与第二相位的相位差以验证不同第一相位下存储控制器的读写准确性，以找出最优相位差，以对存储控制器的读写准确性进行自动校准，保证读写数据的正确性。

技术领域

本申请涉及存储器技术领域，尤其涉及一种读写校准方法和电路。

背景技术

存储器由于体积以及功耗的优势，广泛运用于手机、电子词典等消费类电子产品，存储器的读写准确性决定了电子产品的性能。因此，在存储器芯片的设计和生产过程中需要操作存储器颗粒，以保证存储器读写的正确性。对于传统的存储控制器，在不同时钟频率下，需要手动对存储控制器的时钟通道或数据通道进行延时调节，进而调节存储器控制器的时钟信号与存储器的时钟信号之间的相位差，以保证读写数据的正确性，费时费力，并且不够灵活和可靠。

发明内容

为了解决现有技术中的对存储器进行延时调节时需要手动调节，费时费力且准确度不高的技术问题。本申请提供了一种读写校准方法和电路，其主要目的在于自动找出存储控制器与存储模块的最优相位差，以对存储控制器的读写准确性进行校准。

为实现上述目的，本申请提供了一种读写校准方法，该方法包括：

根据读写一致性数据对工作于不同的第一相位下的存储控制器的读写准确性分别进行验证，所述读写一致性数据包括：工作于所述第一相位下从存储模块的同一个存储地址读出的数据与写入的数据是否相同，其中，所述第一相位为提供给所述存储控制器的第一时钟信号的相位；

当工作于所述第一相位下的存储控制器的读写准确性验证通过时，将所述第一相位与所述存储模块所工作的第二相位的相位差作为候选相位差，其中，所述第二相位为提供给所述存储模块的第二时钟信号的相位；

按照预设规则从候选相位差中选取一目标相位差；

对存储控制器的第一时钟信号的第一相位进行调节，使存储控制器工作在目标相位差对应的第一相位下。

此外，为实现上述目的，本申请还提供了一种读写校准电路，该电路包括连接的时钟模块、校准模块和存储控制器；

时钟模块用于为存储控制器和校准模块提供第一时钟信号、为存储模块提供第二时钟信号，其中，第一时钟信号的第一相位与第二时钟信号的第二相位存在相位差；

存储控制器用于工作于第一时钟信号下以对工作于第二时钟信号下的存储模块进行数据读写；

校准模块包括：

第一调节模块，用于通过时钟模块调节第一时钟信号的第一相位，以调节第一相位与第二时钟信号之间的相位差；

验证模块，用于根据读写一致性数据对工作于不同的第一相位下的存储控制器的读写准确性分别进行验证，所述读写一致性数据包括：工作于所述第一相位下从存储模块的同一个存储地址读出的数据与写入的数据是否相同，其中，所述第一相位为提供给所述存储控制器的第一时钟信号的相位；

第一筛选模块，用于当工作于所述第一相位下的存储控制器的读写准确性验证通过时，将所述第一相位与所述存储模块所工作的第二相位的相位差作为候选相位差，其中，所述第二相位为提供给所述存储模块的第二时钟信号的相位；

第二筛选模块，用于按照预设规则从候选相位差中选取一目标相位差；

第二调节模块，对存储控制器的第一时钟信号的第一相位进行调节，使存储控制器工作在目标相位差对应的第一相位下。