[发明专利]自动化测试方法、装置、电子设备和可读存储介质

说明书

本申请实施例提供了一种自动化测试方法、装置、电子设备和可读存储介质，涉及计算机技术领域。通过本申请实施例，测试控制器可以基于层层递进的硬件测试、软件测试和异常工况测试，对待测控制器进行自动化测试。这样，可以确保自动化测试覆盖待测控制器的所有端口和功能，保证了测试的严谨性，提高了测试结果的准确性。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，特别是涉及一种自动化测试方法、装置、电子设备和可读存储介质。

背景技术

随着计算机技术的发展，电子设备的功能越来越多。目前，控制器通常需要配置大量的端口以实现各种功能，例如，控制器中可以配置模拟量的输入端口、模拟量的输出端口、数字量的输入端口、数字量的输出端口等等。

在实际应用中，控制器中的各个端口需要经过严格的测试验证，才能够确保控制器正常按需工作。

然而，在相关技术中，对于控制器端口的测试往往是零散或者单一层级的方式，这样会使得测试结果的准确性较低。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例提供一种自动化测试方法、装置、电子设备和可读存储介质，以提高测试结果的准确性。

第一方面，提供了一种自动化测试方法，所述方法应用于测试控制器，所述方法包括：

控制预先设置的硬件测试装置对待测控制器进行硬件测试；

响应于所述硬件测试通过，控制预先设置的软件测试装置对所述待测控制器进行软件测试；

响应于所述软件测试通过，控制预先设置的异常工况测试装置对所述待测控制器进行异常工况测试；以及

输出自动化测试结果。

第二方面，提供了一种自动化测试系统，所述系统包括：

待测控制器；

测试设备，包括硬件测试装置、软件测试装置和异常工况测试装置；以及

测试控制器，被配置为执行如下步骤：

控制预先设置的硬件测试装置对待测控制器进行硬件测试；

响应于所述硬件测试通过，控制预先设置的软件测试装置对所述待测控制器进行软件测试；

响应于所述软件测试通过，控制预先设置的异常工况测试装置对所述待测控制器进行异常工况测试；以及

输出自动化测试结果。

第三方面，提供了一种自动化测试装置，所述装置应用于测试控制器，所述装置包括：

硬件测试单元，用于控制预先设置的硬件测试装置对待测控制器进行硬件测试；

软件测试单元，用于响应于所述硬件测试通过，控制预先设置的软件测试装置对所述待测控制器进行软件测试；

异常工况测试单元，用于响应于所述软件测试通过，控制预先设置的异常工况测试装置对所述待测控制器进行异常工况测试；以及

第一输出单元，用于输出自动化测试结果。

第四方面，本申请实施例提供了一种电子设备，包括存储器和测试控制器，所述存储器用于存储一条或多条计算机程序指令，其中，所述一条或多条计算机程序指令被所述测试控制器执行以实现如第一方面所述的方法。

第五方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储计算机程序指令，所述计算机程序指令在被测试控制器执行时实现如第一方面所述的方法。

第六方面，本申请实施例提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序/指令，所述计算机程序/指令被处理器执行时实现如第一方面所述的方法。