[发明专利]一种基于CPU绑核对M.2系统盘性能测试方法及装置在审
申请号: | 202111268474.0 | 申请日: | 2021-10-29 |
公开(公告)号: | CN114116333A | 公开(公告)日: | 2022-03-01 |
发明(设计)人: | 王电轻 | 申请(专利权)人: | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人: | 赵佳民 |
地址: | 215100 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 cpu 核对 系统盘 性能 测试 方法 装置 | ||
1.一种基于CPU绑核对M.2系统盘性能测试方法,其特征在于,包括如下步骤:
S1.配置M.2系统盘的测试环境,插入待测M.2系统盘,并进行格式化和分区;
S2.将对待测M.2系统盘进行测试的FIO工具的线程或进程绑定到设定的CPU核;
S3.通过FIO工具按照预设的IO模型策略对待测M.2系统盘进行随机以及顺序读写测试,并根据测试结果评估M.2系统盘性能。
2.如权利要求1所述的基于CPU绑核对M.2系统盘性能测试方法,其特征在于,步骤S1具体步骤如下:
S11.将待测M.2系统盘插入到存储设备的设定盘位,并获取待测M.2系统盘的设备节点路径;
S12.使用fdisk命令进行分区,将待测M.2系统盘的全盘所有空间划分为一个区;
S13.将待测M.2系统盘的分区格式化为ext4文件系统,并挂载格式化后的分区。
3.如权利要求1所述的基于CPU绑核对M.2系统盘性能测试方法,其特征在于,步骤S2具体步骤如下:
S21.获取待绑定的CPU核或CPU核组,设定为测试CPU核或测试CPU核组;
S22.使用tasket命令将对待测M.2系统盘进行测试的FIO工具的线程或进程绑定到测试CPU核或测试CPU核组。
4.如权利要求1所述的基于CPU绑核对M.2系统盘性能测试方法,其特征在于,步骤S3具体步骤如下:
S31.预设IO模型策略,对待测M.2系统盘进行第一设定次数的顺序写后,再进行第一设定次数的顺序读,并在顺序写之前以及顺序读之前进行第二设定次数的随机写,以及在每次随机写之后通过trim命令清除待测M.2系统盘的NAND flash资料;
S32.使用线程或进程绑定的FIO工具按照预设的IO模型策略对待测M.2系统盘进行测试;
S33.根据测试结果对M.2系统盘进行性能评估。
5.如权利要求4所述的基于CPU绑核对M.2系统盘性能测试方法,其特征在于,步骤S31具体步骤如下:
S311.对待测M.2系统盘进行第一组随机写;
S312.对待测M.2系统盘按照第一设定数据块大小进行第一容量的随机写;
S313.通过trim命令清除待测M.2系统盘的NAND flash资料;
S314.判断对待测M.2系统盘进行随机写的次数是否达到第一设定次数;
若是,进入步骤S315;
若否,返回步骤S312;
S315.对待测M.2系统盘按照第二设定数据大小进行第二容量的顺序写;
S316.判断对待测M.2系统盘进行顺序写的次数是否达到第二设定次数;
若是,进入步骤S317;
若否,返回步骤S315;
S317.记录第二设定次数的顺序写每次的执行结果以及各次的平均值;
S318.对待测M.2系统盘进行第二组随机写;
S319.按照第一设定数据块大小进行第一容量的随机写;
S31A.通过trim命令清除待测M.2系统盘的NAND flash资料;
S31B.判断对待测M.2系统盘进行随机写的次数是否达到第一设定次数;
若是,进入步骤S31C;
若否,返回步骤S319;
S31C.对待测M.2系统盘按照第二设定数据大小进行第二容量的顺序读;
S31D.判断对待测M.2系统盘进行顺序读的次数是否达到第二设定次数;
若是,进入步骤S31E;
若否,返回步骤S31C;
S31E.记录第二设定次数的顺序读每次的执行结果以及各次的平均值。
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