[发明专利]一种高可靠性无源开关通断状态检测电路

说明书

本发明公开了一种高可靠性无源开关通断状态检测电路，包括电压比较器U1，电阻R3、R4、R5、R6、R7、R8，电容C1、C2、C3、C4、C5，二极管D2、Z1、Z2以及开关K2，本发明开关接通时，阻抗增大到设定值，或开关断开时，阻抗降低到设定值，均可自动判断为开关断开，防止误触发；开关的2根连接线中的任何一根或2根同时接高压时，短时间或长时间连接均不会对后端微处理器或电路造成任何不良影响；另外还能防止因使用环境或使用不当导致的失效引起检测电路本身或后端微处理器或其它电路损坏，提高系统可靠性。

技术领域

本发明涉及开关检测电路的技术领域，具体涉及一种高可靠性无源开关通断状态检测电路。

背景技术

开关检测电路主要是依靠机械开关(如按钮、触点锁等)或电控制器件(如继电器等)的接通或断开使检测电路产生预定的阶跃变化，为后端微处理器或被驱动电路提供信号源，作为其执行某项功能的驱动事件。

如图2所示为现有开关检测的典型电路，在该类开关检测方案中，安全性都是靠工艺指导和使用手册或是外部辅助防护手段来保障的，但电路本身的安全性较低，对恶劣环境适应性、可能发生的误用及各种失效模式的防护性都较差，甚至在某些情况下会引发严重的安全问题。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明提供了一种高可靠性无源开关通断状态检测电路，解决了上述背景技术中提出的问题。

为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种高可靠性无源开关通断状态检测电路，包括电压比较器U1，电阻R3、R4、R5、R6、R7、R8，电容C1、C2、C3、C4、C5，二极管D2、Z1、Z2以及开关K2，所述电压比较器U1的IN-端串联C2后分为两路，一路接地，另一路串联C1后接输入电压VCC；二极管D2的正极接输入电压VCC，负极串联R3、端口CNT1后接开关K2的其中一端，开关K2的另一端串联端口CNT2、R7后接U1的IN+端；电阻R4一端接D2的负极，另一端接U1的IN-端；电阻R5一端接U1的IN-端，另一端接地；二极管Z1的正极接地，负极接U1的IN-端；电阻R8一端接U1的IN+端，另一端接地；二极管Z2的正极接地，负极接U1的IN+端；电容C5一端接U1的IN+端，另一端接地；U1的VCC端接输入电压VCC；U1的GND端接地；U1的OUT端串联R6后接输出端口CntDet；电容C3一端接输入电压VCC，另一端接地；电容C4一端接输出端口CntDet，另一端接地。

作为优选，所述电压比较器U1为满幅比较器。

作为优选，所述电容C1、C2、C3、C5为滤波电容。

作为优选，所述二极管D2为防高压输入二极管，Z1、Z2为防护用稳压二极管。

作为优选，所述电阻R6和电容C4组成电压比较器输出RC滤波电路。

本发明提供了一种高可靠性无源开关通断状态检测电路，具备以下有益效果：当CNT1和CNT2端口意外浸水或掺杂绝缘性较低的异物时，不会误检测到开关接通，不会引起后端微处理器或电路误动作；当CNT1和/或CNT2端口误接电源地线或高压(超出后端微处理器或电路耐压)时，均不会造成任何器件或线路上的损伤，且误接没有时间限制，可以无损承受长时间(电子元器件或钥匙开关的正常寿命时间)误接。

附图说明

图1为本发明检测电路的电路图；

图2为现有技术的典型检测电路图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。