[发明专利]一种盘片自动化测试方法、装置、设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 202111204483.3 申请日: 2021-10-15
公开(公告)号: CN113903368B 公开(公告)日: 2023-07-14
发明(设计)人: 李佳伟;黄慷明;邵逸波 申请(专利权)人: 成都芯盛集成电路有限公司
主分类号: G11B20/18 分类号: G11B20/18;G11C29/56
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 赵菲
地址: 610000 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 盘片 自动化 测试 方法 装置 设备 存储 介质
【说明书】:

本申请公开了一种盘片自动化测试方法、装置、设备及存储介质,应用于控制端,包括:获取测试端上待测盘片的初始smart信息,对初始smart信息进行解析得到相应的初始目标参数;根据测试需求生成测试指令并将测试指令发送至测试端,以便测试端根据测试指令对待测试盘片的预设测试项进行第一测试;如果第一测试通过,则利用与第一测试后待测盘片的最终smart信息对应的最终目标参数和初始目标参数进行第二测试,如果第二测试通过,则判定待测盘片合格。本申请获取并解析待测盘片的初始smart信息得到初始目标参数,在第一测试通过的基础上,进一步利用最终目标参数与初始目标参数进行第二测试,整个测试过程自动化、可控程度较高,避免人工干预出错,提高测试效率。

技术领域

发明涉及生产测试技术领域,特别涉及一种盘片自动化测试方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

盘片在生产完成出厂前需要进行生产测试,以保证出厂的盘片性能符合厂商标称值。目前,在单项生产测试中,一般通过人工干预逐个执行测试并手动记录测试结果等,无法批量、大规模进行自动化生产测试。人工干预测试不仅耗费大量人力和物力,由于操作不方便极易出现测试误差,使得测试结果不准确,无法保证盘片质量,进而降低用户黏度。

因此,如何高效对待测试盘片进行自动化测试是本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

有鉴于此,本发明的目的在于提供一种盘片自动化测试方法、装置、设备及存储介质,整个测试过程自动化、可控程度较高,避免人工干预出错,提高测试效率。其具体方案如下:

本申请的第一方面提供了一种盘片自动化测试方法,包括:

获取测试端上待测盘片的初始smart信息,并对所述初始smart信息进行解析以得到相应的初始目标参数;

根据测试需求生成测试指令并将所述测试指令发送至所述测试端,以便所述测试端根据所述测试指令对所述待测试盘片的预设测试项进行第一测试;

如果所述第一测试通过,则利用与所述第一测试后所述待测盘片的最终smart信息对应的最终目标参数和所述初始目标参数进行第二测试,如果所述第二测试通过,则判定所述待测盘片合格。

可选的,所述获取测试端上待测盘片的初始smart信息之前,还包括:

初始化所述测试端;

根据访问权限启动所述控制端,并在所述控制端加载包括所述预设测试项的预设测试信息。

可选的,所述根据测试需求生成测试指令并将所述测试指令发送至所述测试端,以便所述测试端根据所述测试指令对所述待测试盘片的预设测试项进行第一测试,包括:

利用解析后的所述初始smart信息确定所述待测试盘片的接口类型,得到相应的测试需求;

根据所述测试需求生成测试指令并将所述测试指令发送至所述测试端,以便所述测试端启动与所述测试指令对应的测试线程对所述待测试盘片的预设测试项进行第一测试。

可选的,所述对所述初始smart信息进行解析以得到相应的初始目标参数,包括:

对所述初始smart信息进行解析,将解析后的所述初始smart信息中的所述待测试盘片的型号名称、序列号及重映射扇区数确定为初始目标参数。

可选的,所述利用与所述第一测试后所述待测盘片的最终smart信息对应的最终目标参数和所述初始目标参数进行第二测试,包括:

获取所述第一测试后所述待测盘片的最终smart信息,并对所述最终smart信息进行解析,将解析后的所述最终smart信息中的所述待测试盘片的型号名称、序列号及重映射扇区数确定为最终目标参数;

判断所述最终目标参数与所述初始目标参数是否一致,如果是,则第二测试通过。

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