[发明专利]一种数据库巡检方法、装置、电子设备及存储介质有效
申请号: | 202111189854.5 | 申请日: | 2021-10-13 |
公开(公告)号: | CN113641567B | 公开(公告)日: | 2022-03-25 |
发明(设计)人: | 刘都都;刘俊海;王林冬 | 申请(专利权)人: | 北京易真学思教育科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/34 | 分类号: | G06F11/34;G06F11/30 |
代理公司: | 北京开阳星知识产权代理有限公司 11710 | 代理人: | 王艳斌 |
地址: | 102200 北京市昌平区未*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 数据库 巡检 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
本公开涉及一种数据库巡检方法、装置、电子设备及存储介质,该方法包括:从数据源中拉取原始指标数据;原始指标数据包括:与实例相关的基础指标数据和与数据库相关的业务指标数据;获取预先配置的自动巡检参数;自动巡检参数包括:巡检周期、性能巡检项、数据分析参数;按照巡检周期从原始指标数据中获取巡检数据;巡检数据包括各性能巡检项对应的第一指标数据;根据数据分析参数对巡检数据进行分析。本公开能够提升数据巡检效率。
技术领域
本公开涉及数据库技术领域,尤其涉及一种数据库巡检方法、装置、电子设备以及存储介质。
背景技术
数据库在互联网应用系统中的重要性不言而喻,它按照数据结构来组织、存储和管理数据。对数据库定期进行巡检、风险预防是数据库日常维护的重要环节,通常可以通过巡检来评估数据库是否运行良好,以保证整个数据通信系统的正常运转。
目前主要采用人工方式对数据库进行巡检,巡检一次大约需要两天时间,这种巡检方式需要花费大量的人力成本,而且巡检效率低下。然而,随着信息时代的不断发展,实际用户所需要的巡检周期应该更短。如果仍依赖人工方式进行数据库巡检,巡检周期会受到工作时间的约束,巡检效率低且巡检质量差,容易漏检。
发明内容
为了解决上述技术问题或者至少部分地解决上述技术问题,本公开提供了一种数据库巡检方法、装置、电子设备及存储介质。
根据本公开的一方面,提供了一种数据库巡检方法,包括:
从数据源中拉取原始指标数据,其中,所述原始指标数据包括:与实例相关的基础指标数据和与数据库相关的业务指标数据;获取预先配置的自动巡检参数,其中,所述自动巡检参数包括:巡检周期、性能巡检项、数据分析参数;按照所述巡检周期从所述原始指标数据中获取巡检数据,其中,所述巡检数据包括各性能巡检项对应的第一指标数据;根据所述数据分析参数对所述巡检数据进行分析。
根据本公开的另一方面,提供了一种数据库巡检装置,包括:
数据拉取模块,用于从数据源中拉取原始指标数据,其中,所述原始指标数据包括:与实例相关的基础指标数据和与数据库相关的业务指标数据;
参数获取模块,用于获取预先配置的自动巡检参数,其中,所述自动巡检参数包括:巡检周期、性能巡检项、数据分析参数;
巡检数据获取模块,用于按照所述巡检周期从所述原始指标数据中获取巡检数据,其中,所述巡检数据包括各性能巡检项对应的第一指标数据;
数据分析模块,用于根据所述数据分析参数对所述巡检数据进行分析。
根据本公开的另一方面,提供了一种电子设备,所述电子设备包括:处理器;以及存储程序的存储器,所述程序包括指令,所述指令在由所述处理器执行时使所述处理器执行根据上述方法。
根据本公开的另一方面,提供了一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质,所述计算机指令用于使所述计算机执行上述方法。
本公开实施例提供的技术方案与现有技术相比具有如下优点:
本公开实施例提供的数据库巡检方法、装置、电子设备及存储介质,该方法包括:从数据源中拉取原始指标数据;原始指标数据包括:与实例相关的基础指标数据和与数据库相关的业务指标数据;获取预先配置的自动巡检参数;自动巡检参数包括:巡检周期、性能巡检项、数据分析参数;按照巡检周期从原始指标数据中获取巡检数据;巡检数据包括各性能巡检项对应的第一指标数据;根据数据分析参数对巡检数据进行分析。本公开能够提升数据巡检效率。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本公开的实施例,并与说明书一起用于解释本公开的原理。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京易真学思教育科技有限公司,未经北京易真学思教育科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111189854.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。