[发明专利]一种单粒子翻转故障模拟系统、方法及存储介质

权利要求书

1.一种单粒子翻转故障模拟系统，其特征在于，包括上位机和下位机；

所述上位机用于导入原始数据、翻转配置信息和标志位信息，并根据所述标志位信息对所述原始数据和所述翻转配置信息进行编码分析，得到编码信息，并将所述编码信息发送至所述下位机；

所述下位机用于接收所述编码信息，并对所述编码信息进行解码分析，得到解码数据；构建模拟故障翻转电路，并通过所述模拟故障翻转电路对所述解码数据进行单粒子翻转故障模拟，得到模拟后数据；计算所述解码数据与所述模拟后数据之间的误码率，并将所述模拟后数据以及所述误码率作为模拟结果。

2.根据权利要求1所述的单粒子翻转故障模拟系统，其特征在于，所述标志位信息包括第一标志位和第二标志位，所述上位机根据所述标志位信息对所述原始数据和所述翻转配置信息进行编码分析的具体过程为：

S11：判断所述第一标志位是否为预设标志位；若是，则执行S12，若否，则执行S13；

S12：对所述模拟故障翻转电路进行部分动态重配置，得到重配置后的模拟故障翻转电路，并执行S13；

S13：判断所述第二标志位是否为预设标志位；若否，则执行S14，若是则执行S15；

S14：根据所述第一标志位和所述第二标志位对所述翻转配置信息和所述原始数据进行编码，得到第一编码信息；

S15：根据所述翻转配置信息对所述原始数据进行软件仿真，得到仿真数据，并根据所述第一标志位和所述第二标志位对所述翻转配置信息、所述仿真数据和所述原始数据进行编码，得到第二编码信息；

所述第一编码信息或所述第二编码信息则为所述编码信息。

3.根据权利要求2所述的单粒子翻转故障模拟系统，其特征在于，所述下位机对所述编码信息进行解码分析的具体过程为：

对所述第一编码信息进行解码，得到第一解码数据，所述第一解码数据包括第一标志位、第二标志位、翻转配置信息和原始数据；

或，

对所述第二编码信息进行解码，得到初始解码数据、第一标志位、第二标志位以及翻转配置信息；

对所述初始解码数据进行数据分离，得到仿真数据和原始数据，并将所述仿真数据、所述原始数据、所述第一标志位、所述第二标志位以及所述翻转配置信息作为第二解码数据；

所述第一解码数据或所述第二解码数据则为所述解码数据。

4.根据权利要求1所述的单粒子翻转故障模拟系统，其特征在于，所述模拟故障翻转电路包括多个第一二输入选择器、多个第二二输入选择器和使能控制矩阵，所述下位机构建模拟故障翻转电路的具体过程为：

所述第一二输入选择器以及所述第二二输入选择器的个数均与待模拟的寄存器的位数相匹配；

其中，所述待模拟的寄存器具体为由多输入多输出的触发器结构形态存在于FPGA中，每一位寄存器均包括输入触发器和输出触发器；

各个所述第一二输入选择器连接在对应的所述输入触发器和所述输出触发器之间，各个所述第二二输入选择器连接在对应的所述输出触发器之后，所述使能控制矩阵连接在各个所述第二二输入选择器以及各个所述第一二输入选择器上。

5.根据权利要求3所述的单粒子翻转故障模拟系统，其特征在于，所述下位机通过所述模拟故障翻转电路对所述解码数据进行单粒子翻转故障模拟的具体过程为：

判断所述第一标志位是否为所述预设标志位；

若是，则将所述翻转配置信息和所述原始数据均输入至所述重配置后的模拟故障翻转电路进行第一单粒子翻转故障模拟，得到第一模拟后数据；

若否，则将所述翻转配置信息和所述原始数据输入至所述模拟故障翻转电路进行第二单粒子翻转故障模拟，得到第二模拟后数据；

所述第一模拟后数据或所述第二模拟后数据则为所述模拟后数据。