[发明专利]位置检测装置在审
申请号: | 202111147796.X | 申请日: | 2021-09-29 |
公开(公告)号: | CN114279320A | 公开(公告)日: | 2022-04-05 |
发明(设计)人: | 堀边隆介;安田博 | 申请(专利权)人: | 丰田合成株式会社 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 何立波;张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 位置 检测 装置 | ||
1.一种位置检测装置,其中,
所述位置检测装置具有:
定时生成部,其分别隔开间隔而反复生成不同相位的调制信号序列;
多个发光部,它们将根据所述不同相位的调制信号序列而进行了强度调制的检测光射出;
受光部,其接收所述检测光由对象物反射后的反射光,并变换为电信号;
提取部,其从所述电信号提取具有与所述不同相位的调制信号序列的任意者进行了相位同步的分量的信号波;
积分器,其对由所述提取部提取的所述信号波进行积分;以及
运算部,其基于所述积分器的积分输出而对所述对象物的位置进行计算,
在对具有与此次的所述调制信号序列进行了相位同步的分量的所述信号波进行积分之前,所述积分器预设为针对具有与上次的所述调制信号序列进行了相位同步的分量的所述信号波的所述积分输出的最终值。
2.根据权利要求1所述的位置检测装置,其中,
所述上次的所述调制信号序列和所述此次的所述调制信号序列,是同一相位的调制信号序列。
3.根据权利要求1或2所述的位置检测装置,其中,
所述调制信号序列是矩形波状的信号,
在所述受光部与所述提取部之间设置有AD变换部,该AD变换部以高于针对根据所述调制信号序列而进行的强度调制的调制频率的频率对从所述受光部输出的模拟信号进行采样,并变换为数字信号,
所述积分器对由所述提取部从所述数字信号提取的所述信号波进行积分,并且,
在所述不同相位的调制信号序列的任意者的信号电平变迁之后直至经过了恒定期间为止的期间的至少一部分,禁止对所述信号波进行积分的处理。
4.根据权利要求3所述的位置检测装置,其中,
在直至经过了所述恒定期间为止的整个期间,所述积分器禁止对所述信号波进行积分的处理。
5.一种位置检测装置,其中,
所述位置检测装置具有:
定时生成部,其分别隔开间隔而反复生成不同相位的调制信号序列;
多个发光部,它们将根据所述不同相位的调制信号序列而进行了强度调制的检测光射出;
受光部,其接收所述检测光由对象物反射后的反射光,并变换为电信号;
提取部,其从所述电信号提取具有与所述不同相位的调制信号序列的任意者进行了相位同步的分量的信号波;
积分器,其对由所述提取部提取的信号波进行积分;以及
运算部,其基于所述积分器的积分输出而对所述对象物的位置进行计算,
在具有与上次的所述调制信号序列进行了相位同步的分量的所述信号波的积分完毕之后直至具有与此次的所述调制信号序列进行了相位同步的分量的所述信号波的积分开始为止的期间,所述积分器设定为预先规定的规定值。
6.根据权利要求5所述的位置检测装置,其中,
所述调制信号序列是矩形波状的信号,
在所述受光部与所述提取部之间设置有AD变换部,该AD变换部以高于针对根据所述调制信号序列而进行的强度调制的调制频率的频率对从所述受光部输出的模拟信号进行采样,并变换为数字信号,
所述积分器对由所述提取部从所述数字信号提取的所述信号波进行积分,并且,
在所述不同相位的调制信号序列的任意者的信号电平变迁之后直至经过了恒定期间为止的期间的至少一部分,禁止对所述信号波进行积分的处理。
7.根据权利要求6所述的位置检测装置,其中,
在直至经过了所述恒定期间为止的整个期间,所述积分器禁止对所述信号波进行积分的处理。
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