[发明专利]引脚驱动器和测试设备校准在审
申请号: | 202111139994.1 | 申请日: | 2021-09-28 |
公开(公告)号: | CN114325532A | 公开(公告)日: | 2022-04-12 |
发明(设计)人: | A·K·辛格;C·C·麦可金;B·凯里 | 申请(专利权)人: | 美国亚德诺半导体公司 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 张丹 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 引脚 驱动器 测试 设备 校准 | ||
1.一种用于向被测设备(DUT)提供信号或从其接收信号的测试设备系统,该系统包括:
输出缓冲器电路,被配置为响应于缓冲器控制节点处的强制控制信号向DUT提供DUT信号;
控制器电路,被配置为在所述缓冲器控制节点处提供所述强制控制信号;和
旁路电路,被配置为选择性地旁路所述控制器电路并在所述缓冲器控制节点处提供辅助控制信号。
2.权利要求1所述的测试设备系统,还包括耦合到所述旁路电路并被配置为提供辅助控制信号的辅助控制电路。
3.权利要求2所述的测试设备系统,其中所述辅助控制电路被配置为从DUT接收信息,并作为响应提供所述辅助控制信号。
4.权利要求1所述的测试设备系统,其中所述旁路电路包括信号选择器电路,该信号选择器电路被配置为选择性地将所述缓冲器控制节点耦合到所述控制器电路或辅助源设备,其中所述辅助源设备被配置为提供辅助控制信号以控制所述输出缓冲器电路。
5.权利要求4所述的测试设备系统,还包括DUT电压感测输出节点,被配置为向所述辅助源设备提供关于DUT节点处的电压信号的信息;
其中所述辅助源设备被配置为基于关于DUT节点处的电压信号的信息提供所述辅助控制信号。
6.权利要求4所述的测试设备系统,还包括:
DUT电压感测输出节点,被配置为向所述辅助源设备提供关于DUT节点处的电压信号的信息;和
DUT电流感测输出节点,被配置为向所述辅助源设备提供关于DUT节点处的电流信号的信息;和
其中所述辅助源设备被配置为基于关于DUT节点处的电压信号的信息或关于DUT节点处的电流信号的信息来提供所述辅助控制信号。
7.权利要求1所述的测试设备系统,还包括耦合到所述输出缓冲器电路中的电阻器的二极管,其中所述二极管被配置为当所述旁路电路旁路所述控制器电路时从所述外部源设备接收校准电流信号。
8.权利要求1所述的测试设备系统,其中所述旁路电路包括被配置为选择性地将所述缓冲器控制节点耦合到所述控制器电路的第一开关,并且所述旁路电路包括被配置为将所述缓冲器控制节点选择性地耦合到提供辅助控制信号的源设备的第二开关。
9.权利要求1所述的测试设备系统,其中所述输出缓冲器电路包括经由相应的多个输出电阻器耦合到DUT的多个缓冲器,并且其中基于所述缓冲器控制节点处的强制控制信号的特性,选择所述多个缓冲器中的一个或多个以向DUT节点提供DUT信号。
10.权利要求9所述的测试设备系统,其中:
所述控制器电路包括第一半导体管芯的一部分;和
所述输出缓冲器电路包括与所述第一半导体管芯不同的第二半导体管芯的一部分;和
其中所述第一半导体管芯包括较低带宽的集成器件,而所述第二半导体管芯包括相对较高带宽的集成器件。
11.一种操作自动化测试设备(ATE)系统的方法,该方法包括:
使用本地控制器为系统的参数测量单元生成强制控制信号;
在测试模式中,在输出缓冲器电路处接收强制控制信号,并且作为响应,在DUT接口节点处向DUT提供第一被测设备(DUT)信号;和
在辅助控制模式中,旁路所述本地控制器并在所述输出缓冲器电路接收辅助控制信号,并且作为响应,向DUT提供第二DUT信号。
12.权利要求11所述的方法,还包括:
使用不同于所述本地控制器的辅助控制电路产生辅助控制信号;和
使用切换电路,选择来自所述本地控制器的强制控制信号或来自所述辅助控制电路的辅助控制信号之一,并将选择的信号提供给所述输出缓冲器电路。
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