[发明专利]一种关键屏柜的监测方法、装置、计算机设备和存储介质

说明书

本申请涉及一种关键屏柜的监测方法、装置、计算机设备和存储介质。方法包括：通过设置在换流站的关键屏柜内部的红外摄像设备，获取关键屏柜内部的原始红外图像，对原始红外图像进行分析，得到原始红外图像中各区域的温度，若区域的温度异常，则根据温度异常的区域在原始红外图像中的位置确定关键屏柜中的发热元件。采用本方法能够实时掌握关键屏柜内部的运行状况，提高了换流站中关键屏柜的巡检效率。

技术领域

本申请涉及交直流混联输电技术领域，特别是涉及一种关键屏柜的监测方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

随着交直流混联输电技术的发展，换流站的安全问题需要得到重视。关键屏柜作为换流站电力运转的关键设备，一直处于一种封闭状态的环境中，关键屏柜中的很多内部元件容易发热，可能会出现关键屏柜的内部元件异常，从而导致换流站的很多设备故障。因此，如果关键屏柜的内部元件发热问题得不到解决，容易造成安全事故。

在现有技术中，通常通过对关键屏柜的运行状况进行巡检，从而判断内部元件是否出现发热导致的异常，目前，对关键屏柜的运行状况进行巡检主要包括设备巡视、红外测温、表计抄录、缺陷跟踪、巡检数据录入等大量工作，上述工作主要依靠人工来完成，并且由人工将数据录入以及对数据进行分析整理，以此来保证关键屏柜的安全运行。

但是，现有技术对换流站中关键屏柜进行巡检的方案，存在巡检效率较低的问题。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够解决巡检效率较低的关键屏柜的监测方法、装置、计算机设备和存储介质。

一种关键屏柜的监测方法，所述方法包括：

通过设置在换流站的关键屏柜内部的红外摄像设备，获取所述关键屏柜内部的原始红外图像；

对所述原始红外图像进行分析，得到所述原始红外图像中各区域的温度；

若所述区域的温度异常，则根据所述温度异常的区域在所述原始红外图像中的位置确定所述关键屏柜中的发热元件。

在其中一个实施例中，所述方法还包括：

调用所述发热元件对应的目标红外摄像设备，按照预设时间周期对所述发热元件进行监控，以获取所述发热元件的目标红外图像；

根据所述目标红外图像获取所述发热元件的温度；

根据所述发热元件的温度判断所述发热元件是否异常。

在其中一个实施例中，所述根据所述发热元件的温度判断所述发热元件是否异常，包括：

若所述发热元件的温度大于预设的第一温度阈值，则确定所述发热元件异常。

在其中一个实施例中，所述根据所述发热元件的温度判断所述发热元件是否异常，包括：

获取预设的第一时间段内所述发热元件的温度差值；

若所述温度差值大于预设的第二温度阈值，则确定所述发热元件异常。

在其中一个实施例中，所述方法还包括：

若所述发热元件异常，则输出告警信息。

在其中一个实施例中，所述方法还包括：

根据所述原始红外图像中各区域的位置与所述关键屏柜内部的元件位置之间的对应关系，和所述原始红外图像中各区域的温度，获取预设的第二时间段内所述关键屏柜内部的各元件温度；

根据所述预设时间段内所述关键屏柜内部的各元件温度，获取各所述元件的温度趋势分析曲线；

根据所述温度趋势分析曲线预测各所述元件在预设的第三时间段内是否出现异常，所述第三时间段为晚于所述第二时间段的时间段。