[发明专利]一种环境模拟装置

说明书

本发明提供了一种环境模拟装置，属于特殊环境模拟技术领域，解决了有技术无法验证用于高空探测的各传感器的测量及修正方法的准确性。一种环境模拟装置，包括探空仪模拟试验装置、压力控制器和双压湿度发生器；所述探空仪模拟试验装置包括密闭测试仓和加热制冷组件；所述密闭测试仓用于为探空仪提供测试环境，所述加热制冷组件用于调节密闭测试仓内的温度；所述密闭测试仓分别与所述压力控制器和双压湿度发生器相连；所述压力控制器用于调节所述密闭测试仓内的压力，所述双压湿度发生器用于调节所述密闭测试仓内的湿度。

技术领域

本发明涉及特殊环境模拟技术领域，尤其是涉及一种环境模拟装置。

背景技术

测量近地面层以上大气的物理、化学特性的方法和技术，称高空探测或高空观测。高空气象观测以测定大气各高度上的温度、湿度、气压、风向、风速为主。高空探测是气象基础业务之一，当前我国气象台站所进行的高空探测业务是指通过升空气球携带仪器称为探空仪，气球在飞升的过程中，仪器能感应出周围环境中的气压，温度，湿度。并以无线电信号方式发往地面。地面工作人员经过计算整理，可得到测站上空气象要素的垂直分布情况。以作为天气预报，气候分析，科学研究和国际交换等用。

在高空探测中，需要借助各种感应器来测定大气各高度上的温度、湿度、气压、风向及风速等数据，但高空的环境气候等因素均异于常规环境，各传感器在高空环境中很有可能出现数据测定偏差等问题，但又无法验证各传感器在探空环境下的测量及修正方法的准确性，进而会影响高空探测的作业效果。

因此，现有技术无法验证用于高空探测的各传感器的测量及修正方法的准确性。

发明内容

本发明的目的在于提供一种环境模拟装置，以缓解现有技术无法验证用于高空探测的各传感器的测量及修正方法的准确性技术问题。

本发明提供的一种环境模拟装置，包括探空仪模拟试验装置、压力控制器和双压湿度发生器；

所述探空仪模拟试验装置包括密闭测试仓和加热制冷组件；

所述密闭测试仓用于为探空仪提供测试环境，所述加热制冷组件用于调节密闭测试仓内的温度；

所述密闭测试仓分别与所述压力控制器和双压湿度发生器相连；

所述压力控制器用于调节所述密闭测试仓内的压力，所述双压湿度发生器用于调节所述密闭测试仓内的湿度。

进一步的，所述密闭测试仓内设置有温度传感器、湿度传感器、标准压力器和镜面露点仪；

所述温度传感器、湿度传感器、标准压力器和镜面露点仪分别用于检测密闭测试仓内的温度、湿度、压力和露点温度。

进一步的，还包括PID温度控制器、PID湿度控制器和PID压力控制器；

所述PID温度控制器分别连接所述加热制冷组件和温度传感器；

所述PID湿度控制器分别连接所述双压湿度发生器和湿度传感器；

所述PID压力控制器分别连接所述压力控制器和标准压力器。

进一步的，还包括太阳辐射模拟器；

所述密闭测试仓上设置有辐射窗；

所述密闭测试仓内设置有角度模拟台；

所述太阳辐射模拟器通过所述辐射窗对所述角度模拟台进行模拟太阳光辐射。

进一步的，所述加热制冷组件包括恒温水槽、加热器件和制冷器件；

所述恒温水槽分别连接所述加热器件和制冷器件。

进一步的，所述密闭测试仓内设置有循环风扇。