[发明专利]对焦方法、装置、电子设备和存储介质有效

专利信息
申请号: 202111107829.8 申请日: 2021-09-22
公开(公告)号: CN113938604B 公开(公告)日: 2023-05-09
发明(设计)人: 李佳君;杨林;朱万清 申请(专利权)人: 深圳市汇顶科技股份有限公司
主分类号: H04N23/67 分类号: H04N23/67;H04N25/704;H04N25/60
代理公司: 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 代理人: 成丽杰
地址: 518045 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 对焦 方法 装置 电子设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种对焦方法,应用于图像传感器,其特征在于,所述方法包括:

获取左相位源数据和右相位源数据;

根据所述左相位源数据和所述右相位源数据得到低分辨率视差图;

获取高分辨率引导图;

根据所述低分辨率视差图和所述高分辨率引导图获取高分辨率视差图,所述高分辨率视差图的分辨率高于所述低分辨率视差图的分辨率;

根据所述左相位源数据、所述右相位源数据和所述高分辨率视差图计算得到高分辨率左相位检测数据和高分辨率右相位检测数据;以及

基于所述高分辨率左相位检测数据和所述高分辨率右相位检测数据实现对焦。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于所述图像传感器包括像素阵列,所述像素阵列划分为两个以上包含像素数量为E×F个的节点,所述节点包括:阴影节点和空白节点,所述阴影节点中分布有若干成像像素和X个相位检测像素,所述空白节点中均为成像像素,所述X、E、F均为大于等于1的自然数。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述获取左相位源数据和右相位源数据包括:

获取所述多个阴影节点;

根据所述多个阴影节点得到阴影节点阵列;

根据所述阴影节点阵列和所述相位检测像素得到相位检测像素阵列;以及

根据所述相位检测像素阵列得到所述左相位源数据和所述右相位源数据。

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据左相位源数据和所述右相位源数据获取低分辨率视差图包括:

对所述左相位源数据做融合计算得到左相位融合数据,对所述右相位源数据做融合计算得到右相位融合数据;

对所述左相位融合数据和所述右相位融合数据做相位视差计算得到所述低分辨率视差图。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述对所述左相位融合数据和所述右相位融合数据做相位视差计算得到所述低分辨率视差图包括:

确定视差搜索范围系数S;

基于所述视差搜索范围系数S设定填充系数为V;

根据所述填充系数V对所述左相位融合数据做边缘填充计算,得到左相位边缘填充数据,根据所述填充系数V对所述右相位融合数据做边缘填充计算,得到右相位边缘填充数据;以及

遍历所述左相位边缘填充数据和所述右相位边缘填充数据,获取与所述左相位边缘填充数据和所述右相位边缘填充数据对应的相位视差值,得到所述低分辨率视差图。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,在所述遍历所述左相位边缘填充数据和所述右相位边缘填充数据,获取与所述左相位边缘填充数据和所述右相位边缘填充数据对应的相位视差值,得到所述低分辨率视差图之前,还包括:

选取所述右相位边缘填充数据中的任一数据为待计算点;

根据所述待计算点在所述左相位边缘填充数据中选取对照点;

基于所述对照点和所述填充系数V,从所述右相位边缘数据中抽取右相位数据向量;

基于所述待计算点、所述视差搜索范围系数S和所述右相位数据向量抽取左相位数据向量;

基于所述视差搜索范围系数S,以所述右相位数据向量为模板,对所述左相位数据向量做滑窗操作,得到两个以上的SAD值;以及

根据所述两个以上的SAD值,得到所述两个以上的SAD值的极小值,所述极小值为与所述待计算点、所述对照点对应的相位视差值。

7.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述获取高分辨率引导图包括:

获取所述图像传感器的第一通道像素,根据所述第一通道像素得到第一通道融合数据阵列,所述第一通道像素为除了W通道像素以外在图像传感器的像素中数量占比最大的通道像素;

根据所述第一通道融合数据阵列得到所述高分辨率引导图。

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