[发明专利]一种平场校正参数的获取方法及装置

说明书

本申请提供一种平场校正参数的获取方法及装置，方法包括获取待校正图像的暗场图像；计算并存储暗场行均值向量和暗场列均值向量；调用存储的暗场行均值向量，计算暗场行均值矩阵；调用存储的暗场列均值向量，计算暗场列均值矩阵；将暗场行均值矩阵和暗场列均值矩阵相加，得到每一个暗场像素点的FPN参数；获取待校正图像的亮场图像中每一个亮场像素点的PRNU参数；将FPN参数和PRNU参数输出为待校正图像中每一个待校正像素点的平场校正参数。本申请仅需要存储待校正图像的行均值向量和列均值向量，减小了平场校正时需要存储的参数数据量，并且本申请可得到与对待校正图像中逐个像素点进行平场校正参数计算后相同数据量的平场校正参数。

技术领域

本申请涉及图像处理技术领域，尤其涉及一种平场校正参数的获取方法及装置。

背景技术

在图像处理领域中，为了解决相机中的图像传感器自身的响应不一致性，光源和镜头引入的亮度非均匀性等问题，一般采用平场校正对相机所采集到的图像进行处理。平场校正(FFC)是以相机中的图像传感器的线性响应为基础进行亮度校正的校正方式，通过平场校正可以提高相机成像的均匀性。平场校正时需要使用平场校正参数，计算平场校正参数通常需要采集一张暗场图像Dark_Img和一张80％亮度的亮场图像Bright_Img，然后利用采集到的图像计算平场校正参数。平场校正参数包括FPN和PRNU，具体计算公式如下：

其中，Target可以是Bright_Img-FPN的最大值、最小值、均值，或者是设置值。平场校正时，V_out＝(V_in-FPN)*PRNU,V_out表示平场校正后的输出图像，V_in表示平场校正前的输入图像。

通常，图像中的每个像素点都会有一组平场校正参数(FPN和PRNU)，所以对于采用大分辨率相机采集的图像，该图像中平场校正参数(FPN和PRNU)的数据量非常大，需要很大的存储器件(如：Flash、DDR)才能进行存储；并且，在平场校正的计算过程中，对平场校正参数(FPN和PRNU)的读取时间也很长。因此，在对相机成像均匀性要求不太高的应用中可以通过对平场校正参数(FPN和PRNU)进行简化，以减少大分辨率图像中平场校正参数(FPN和PRNU)需要存储的数据量。

目前，常用的对平场校正参数(FPN和PRNU)简化的方法是通过大分辨率图像中的多个像素点共用一套平场校正参数(FPN和PRNU)进行简化；具体简化过程为：首先，对采集到的暗场大分辨率图像和亮场大分辨率图像采用Binning图像读出模式进行处理，即将暗场大分辨率图像和亮场大分辨率图像上的n*m像素块内的所有像素点取均值变成一个像素点，得到合成像素点；然后，再计算合成像素点的平场校正参数(FPN和PRNU)。此时，大分辨率图像中的平场校正参数(FPN和PRNU)会减少为原平场校正参数(FPN和PRNU)数据量的n*m/1，对暗场大分辨率图像和亮场大分辨率图像进行平场校正时，同一个n*m像素块内的所有像素点共用一套平场校正参数(FPN和PRNU)，采用上述方法一定程度上减少了标定过程中需要存储的平场校正参数(FPN和PRNU)的数据量，但是会使得采用标定过程得到的平场校正参数对需要校正图像进行平场校正后的输出图像出现马赛克效应。

发明内容

本申请提供了一种平场校正参数的获取方法及装置，以解决现有技术中的采用多个像素点共用一套平场校正参数可在一定程度上减少标定过程中需要存储平场校正参数(FPN和PRNU)的数据量，但是会使得采用标定过程得到的平场校正参数对需要校正图像进行平场校正后的输出图像出现马赛克效应的问题。

第一方面，本申请提供一种平场校正参数的获取方法，包括以下步骤：

获取待校正图像的暗场图像，其中，所述暗场图像由至少一个暗场像素块组成，每一个所述暗场像素块内包含至少一个暗场像素点；

计算并存储所述暗场图像的暗场行均值向量和暗场列均值向量；

调用存储的所述暗场行均值向量，计算得到暗场行均值矩阵；