[发明专利]一种小尺度空间碎片广域探测光学系统

权利要求书

1.一种小尺度空间碎片广域探测光学系统，其特征在于：包括沿光传播方向，依次设置在同一光轴上的第一正透镜(1)、第一负透镜(2)、第二正透镜(3)、第三正透镜(4)、第四正透镜(5)、第二负透镜(6)、第五正透镜(7)、第三负透镜(8)，以及孔径光阑(9)和探测器像面(10)，其中第一负透镜(2)、第二负透镜(6)各有一表面为高次非球面；

所述第一正透镜(1)的材料为SILICA，厚度为27.3mm～33mm；

所述第一负透镜(2)的材料折射率为1.59～1.68，厚度为6.5mm～9mm，第一负透镜(2)前表面到第一正透镜(1)后表面的间隔为44.55mm～49.65mm；

所述第二正透镜(3)的材料折射率为1.42～1.49，厚度为45mm～58mm，第二正透镜(3)前表面到第一负透镜(2)后表面的间隔为5.9mm～8.9mm；

所述第三正透镜(4)的材料折射率为1.88～1.92，厚度为28mm～31mm，第三正透镜(4)前表面到第二正透镜(3)后表面的间隔为5.9mm～8.6mm；

所述孔径光阑(9)位于第三正透镜(4)后面，孔径光阑(9)到第三正透镜(4)后表面的间隔为9.1mm～15.6mm；

所述第四正透镜(5)的材料折射率为1.42～1.55，厚度为50mm～58mm，第四正透镜(5)前表面到孔径光阑(9)的间隔为25mm～32mm；

所述第二负透镜(6)的材料折射率为1.62～1.68，厚度为17mm～25mm，第二负透镜(6)前表面到第四正透镜(5)后表面的间隔为0.7mm～2.3mm；

所述第五正透镜(7)的材料折射率为1.43～1.56，厚度为50mm～58mm，第五正透镜(7)前表面到第二负透镜(6)后表面的间隔为40mm～49mm；

所述第三负透镜(8)的材料折射率为1.55～1.65，厚度为10mm～14mm，第三负透镜(8)前表面到第五正透镜(7)后表面的间隔为95mm～115mm，第三负透镜(8)后表面到探测器像面(10)距离8.5mm～12mm。

2.根据权利要求1所述一种小尺度空间碎片广域探测光学系统，其特征在于，所述第一正透镜(1)的焦距f₁与系统焦距f关系为：11.55ff₁14.8f；

所述第一负透镜(2)的焦距f₂与光学系统焦距f关系为：-1.65ff₂-1.34f；

所述第二正透镜(3)的焦距f₃与光学系统焦距f关系为：1.25ff₃1.8f；

所述第三正透镜(4)的焦距f₄与光学系统焦距f关系为：2.2ff₄2.9f；

所述第四正透镜(5)的焦距f₅与光学系统焦距f关系为：0.94ff₅1.59f；

所述第二负透镜(6)的焦距f₆与光学系统焦距f关系为：-0.95ff₆-0.55f；

所述第五正透镜(7)的焦距f₇与光学系统焦距f关系为：0.68ff₇1.19f；

所述第三负透镜(8)的焦距f₈与光学系统焦距f关系为：-0.82ff₈-0.53f。