[发明专利]一种3C产品内部长宽尺寸的测量方法

说明书

本发明涉及尺寸测量领域，具体提供了一种3C产品内部长宽尺寸的测量方法，包括如下步骤；对应各边缘设置基准块；使3D轮廓仪绕X轴旋转θ角度，绕Z轴旋转δ角度后依次扫描第一边缘和第二边缘；然后再次使3D轮廓仪绕Z轴旋转后依次扫描第二边缘与第四边缘；获取3D轮廓仪扫描第一边缘时的第一特征点P₁；获取3D轮廓仪扫描第二边缘时的第二特征点P₃；获取第一特征点P₁到第一基准面的距离a，获取第二特征点P₃到第二基准面的距离b；根据距离a、b、以及基准块之间的距离d获取第一边缘到第二边缘的距离c；以相同的方法获取第三边缘到第四边缘的距离c^’。本发明能够提高对产品内部尺寸的管控精度，并提高测量精度。

技术领域

本发明涉及尺寸测量领域，具体涉及一种3C产品内部长宽尺寸的测量方法。

背景技术

产品的内部尺寸精度影响着产品的装配精度、密封性能等，特别是对于手机、笔记本电脑等3C产品来说，其内部长宽尺寸的精度尤为重要，因此需要保证对其内部长宽尺寸的测量精度。目前对笔记本电脑的内部长宽尺寸进行测量时发现，由于笔记本电脑的四周具有向外凸起的边缘，其内部容易产生遮挡，受产品颜色和特征(R角、圆弧、遮挡)的影响，使得成像位置不一定为管控位置，内部尺寸测量的准确性低。

发明内容

本发明针对3C产品内部尺寸测量过程中，内部产生的遮挡容易影响测量的准确性这一技术问题，提供了一种3C产品内部长宽尺寸的测量方法。并且利用该方法对3C产品内部长宽尺寸进行测量过程中，3D轮廓仪仅需要转动一次角度，降低了因为抖动对测量精度了影响。

一种3C产品内部长宽尺寸的测量方法，该3C产品依次包括第一边缘、第三边缘、第二边缘和第四边缘，第一边缘与第二边缘相对，第三边缘与第四边缘相对；包括如下步骤：

对应第一边缘设置第一基准块，对应第二边缘设置第二基准块，对应第三边缘设置第三基准块，对应第四边缘设置第四基准块；所述第一基准块包括第一基准面，所述第二基准块包括第二基准面，所述第三基准块包括第五基准面，所述第四基准块包括第六基准面，第一基准面到第二基准面的距离为d，第五基准面到第六基准面的距离为d’；

使3D轮廓仪绕X轴旋转θ角度，绕Z轴旋转δ角度；利用3D轮廓仪依次扫描第一边缘与第三边缘，并同步扫描第一基准块与第三基准块；

再次使3D轮廓仪绕Z轴旋转，使3D轮廓能够扫描到第二边缘；利用3D轮廓仪依次扫描第二边缘与第四边缘，并同步扫描第二基准块与第四基准块；

获取3D轮廓仪扫描第一边缘时的第一特征点P₁；获取3D轮廓仪扫描第二边缘时的第二特征点P₃；

获取第一特征点P₁到第一基准面的距离a，获取第二特征点P₃到第二基准面的距离b；

根据距离a、b、d获取第一边缘到第二边缘的距离c；

获取第三边缘到第四边缘的距离c’的方法与获取第一边缘到第二边缘的距离c的方法原理相同。

进一步的，所述获取第一特征点P₁到第一基准面的距离a包括：

获取3D轮廓仪的数值中心点O；

获取数值中心点O到第一基准面的距离S₁；

获取数值中心点O到第一辅助面的距离S₂，其中第一辅助面与第一基准面平行且经过第一特征点P₁；

获取距离a。

进一步的，所述获取数值中心点O到第一基准面的距离S₁以及获取数值中心到第一辅助面的距离S₂包括：