[发明专利]一种检测光学膜的方法、装置及系统

说明书

本揭露提出一种检测光学膜的方法、装置及系统，检测光学膜的方法包括：通过一光学感测器拍摄一待检测光学膜以三种角度放置于一平台上的待检测影像；接收所述光学感测器所传送的所述待检测影像；以及利用所述辨识模型对所述待检测影像进行检测以判断所述待检测光学膜的属性。

技术领域

本揭露是有关于一种检测光学膜的方法、装置及系统，且特别是有关于利用神经网络技术的一种检测光学膜的方法、装置及系统。

背景技术

由于光学膜制程中裁切机构并无分辨光学膜表面保护膜与离型膜的功能，因此在光学膜裁切后，须通过生产线人员耗费大量时间以人工目测方式来检查分类。

然而，人工目测检查光学膜并将其分类容易发生失误。

因此，需要一种检测光学膜的方法、装置及系统，以取代人工目测方式分辨表面保护膜与离型膜，以提升产能。

发明内容

以下揭露的内容仅为示例性的，且不意指以任何方式加以限制。除所述说明方面、实施方式和特征之外，透过参照附图和下述具体实施方式，其他方面、实施方式和特征也将显而易见。即，以下揭露的内容被提供以介绍概念、重点、益处及本文所描述新颖且非显而易见的技术优势。所选择，非所有的，实施例将进一步详细描述如下。因此，以下揭露的内容并不意旨在所要求保护主题的必要特征，也不意旨在决定所要求保护主题的范围中使用。

因此，本揭露的主要目的即在于提供一种检测光学膜的方法、装置及系统，以改善上述缺点。

本揭露提出一种检测光学膜的系统，包括：一平台；一光学感测器，拍摄一待检测光学膜以三种角度放置于所述平台上的表面以产生三个待检测影像；以及一计算装置，执行：接收由所述光学感测器所传送的所述待检测影像；以及利用一辨识模型对所述待检测影像进行检测以判断所述待检测光学膜的属性。

本揭露提出一种检测光学膜的方法，包括：通过一光学感测器拍摄一待检测光学膜以三种角度放置于一平台上的待检测影像；接收所述光学感测器所传送的所述待检测影像；以及利用一辨识模型对所述待检测影像进行检测以判断所述待检测光学膜的属性。

本揭露提出一种检测光学膜的装置，包括：至少一图形处理器；以及至少一计算机储存媒体，储存计算机可读取指令，其中所述图形处理器使用所述计算机储存媒体以执行：接收由一光学感测器拍摄一待检测光学膜以三种角度放置于一平台上的待检测影像；以及利用一辨识模型对所述待检测影像进行检测以判断所述待检测光学膜的属性。

附图说明

图1是显示光学膜组成的示意图；

图2是显示光学膜的表面保护膜或离型膜以不同角度拍摄的影像；

图3是显示根据本揭露一实施例中检测光学膜的系统的示例性示意图；

图4是显示根据本揭露一实施例所述的检测光学膜的方法的流程图；

图5是显示根据本揭露一实施例所述的识别装置利用辨识模型判断上述待检测光学膜的属性的方法的流程图；

图6是显示根据本揭露一实施例的识别光学膜属性的数据的表格；

图7是显示用以实现本揭露实施例的示例性操作环境。

【符号说明】

100:光学膜

102:表面保护膜

104:保护层

106:偏光基体

108:保护层

110:粘着剂层

112:离型膜

300:系统