[发明专利]波峰焊参数测试装置及波峰焊参数测试方法在审

专利信息
申请号: 202111005110.3 申请日: 2021-08-30
公开(公告)号: CN113588007A 公开(公告)日: 2021-11-02
发明(设计)人: 冯烈;方掩;李冰彬;彭加贝;王晓彬;王鹏 申请(专利权)人: 长沙格力暖通制冷设备有限公司;珠海格力电器股份有限公司
主分类号: G01D21/02 分类号: G01D21/02;G01K7/02;G01B21/30
代理公司: 北京市隆安律师事务所 11323 代理人: 廉振保
地址: 410600 湖南省*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 波峰焊 参数 测试 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种波峰焊参数测试装置,其特征在于,包括:

测试底板(10);

PCB板(11),位于所述测试底板(10)的底部;

温度传感器,位于所述测试底板(10)的底部,包括:第一温度传感器(1)、第二温度传感器(2)、第三温度传感器(3)、第四温度传感器(4)和第五温度传感器(5);其中,所述第二温度传感器(2)和所述第三温度传感器(3)之间的连线与所述第四温度传感器(4)和所述第五温度传感器(5)之间的连线平行,且与所述PCB板(11)的运动方向垂直;所述第二温度传感器(2)和所述第四温度传感器(4)之间的连线与所述第三温度传感器(3)和所述第五温度传感器(5)之间的连线平行,且与所述PCB板(11)的运动方向平行;

炉温测试仪,位于所述测试底板(10)的上部,与所述温度传感器连接,所述炉温测试仪用于:根据所述第一温度传感器(1)检测的温度确定波峰焊炉温和浸锡时间;根据所述第二温度传感器(2)和所述第四温度传感器(4)的触波时间,或,所述第三温度传感器(3)和所述第五温度传感器(5)的触波时间确定波峰焊链速;根据所述第二温度传感器(2)、所述第三温度传感器(3)、所述第四温度传感器(4)和所述第五温度传感器(5)的触波总时间确定锡波平整度。

2.根据权利要求1所述的波峰焊参数测试装置,其特征在于,所述炉温测试仪根据所述第二温度传感器(2)的触波总时间和所述第三温度传感器(3)的触波总时间,或,所述第四温度传感器(4)的触波总时间和所述第五温度传感器(5)的触波总时间确定PCB板(11)运动垂直方向的锡波平整度;根据所述第二温度传感器(2)的触波总时间和所述第四温度传感器(4)的触波总时间,或,所述第三温度传感器(3)的触波总时间和所述第五温度传感器(5)的触波总时间确定PCB板(11)运动方向的锡波平整度。

3.根据权利要求1所述的波峰焊参数测试装置,其特征在于,所述温度传感器至少还包括:位于所述PCB板(11)底部的第六温度传感器(6)和第七温度传感器(7);所述炉温测试仪还与所述第六温度传感器(6)和所述第七温度传感器(7)连接,用于根据所述第六温度传感器(6)和/或所述第七温度传感器(7)检测的温度确定波峰焊炉温曲线。

4.根据权利要求1所述的波峰焊参数测试装置,其特征在于,所述炉温测试仪用于通过如下公式确定所述波峰焊链速v:v=L/(t1-t2);其中,L为所述第二温度传感器(2)和所述第四温度传感器(4)之间的距离,t1为所述第二温度传感器(2)的触波时间且t2为所述第四温度传感器(4)的触波时间,或,t1为所述第三温度传感器(3)的触波时间且t2为所述第五温度传感器(5)的触波时间。

5.根据权利要求1所述的波峰焊参数测试装置,其特征在于,

所述炉温测试仪用于通过如下公式确定所述PCB板(11)运动垂直方向的锡波平整度δ1:δ1=|△t1-△t2|*v;其中,v为波峰焊链速,△t1为所述第二温度传感器(2)的触波总时间且△t2为所述第三温度传感器(3)的触波总时间,或,△t1为所述第四温度传感器(4)的触波总时间且△t2为所述第五温度传感器(5)的触波总时间;

所述炉温测试仪用于通过如下公式确定所述PCB板(11)运动方向的锡波平整度δ2:δ2=|△t3-△t4|*v;其中,△t3为所述第二温度传感器(2)的触波总时间且△t4为所述第四温度传感器(4)的触波总时间,或,△t3为所述第三温度传感器(3)的触波总时间且△t4为所述第五温度传感器(5)的触波总时间。

6.根据权利要求3所述的波峰焊参数测试装置,其特征在于,所述第一温度传感器(1)与所述测试底板(10)平行设置;所述第二温度传感器(2)、所述第三温度传感器(3)、所述第四温度传感器(4)、所述第五温度传感、所述第六温度传感器(6)和所述第七温度传感器(7)与所述测试底板(10)垂直设置。

7.根据权利要求1所述的波峰焊参数测试装置,其特征在于,所述温度传感器为铠装型热电偶。

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