[发明专利]一种面向电能表的自检测方法及系统

权利要求书

1.一种面向电能表的自检测方法，其特征在于，所述方法包括：

启动电能表主控制器MCU后，进行MCU运行环境和电能表内部元器件的自检；

当自检通过后，在程序运行过程中，进行RAM和代码区的实时监测；

在软件运行过程中，按照预设的时间间隔对电能表进行不同维度的检测。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述进行MCU运行环境和电能表内部元器件的自检，包括：

检测MCU内核相关寄存器的写-读-比较是否正确；

检测MCU的RAM是否工作正常，是否存在异常比特；

检测MCU的程序区是否完整；

设置MCU外设，检测查写-读-比较是否一致；

通过MCU电源电压检测功能检测电源电压是否在合理范围内；

检测ADC组件测量的准确性，以确定ADC组件是否正常；

检测相关联的时钟源是否起振且频率合理；

检测相关联的外部存储工作是否正常；以及

当上述每项检测的检测结果均指示正常时，确定自检结果为正常；当上述任一项检测的检测结果指示异常时，确定自检结果为异常，并根据异常项发出告警。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述进行RAM和代码区的实时监测，包括：

实时监测RAM中数据的读写，读取时自动与写入时生成的校验码进行比对；

实时检测闪存数据的ECC合法性；以及

当比对一致且ECC合法时，确定实时监测结果为正常；当比对不一致或不DCC不合法时，产生中断或复位，应用根据错误指示进行报警和恢复操作。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述按照预设的时间间隔对电能表进行不同维度的检测，包括：

检测内核相关的外设寄存器的状态是否满足合法性要求；

对于关键的RAM区进行读写测试；

定时进行代码区的CRC校验；

将当前寄存器值与设计目标值进行比对，以对外设寄存器进行监测；

检查电能表运行中使用的参数的合法性，并通过CRC算法鉴定使用的参数是否合格；

在程序运行中，对于运行变量等进行合法合规性检查；其中，所述运行变量包括：关键性变量、循环和指针。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法包括：

通过与硬件电路进行结合，实时对电源进行稳定性监测，包括：

检测相关电源的负载是否合理范围内；

对于MCU侧电源采用比较器或模拟-数字转换器(ADC)检测系统电源的幅度、纹波和最大负载；

顺序开启外部设备的供电回路，判断是否存在电源异常过载，在发现电源异常过载时，进行过载报警并切断该部分外部电路的电源。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

采用匹配的电阻或电容手段，以使得计量模块在未校准时能够在预设容忍范围内，以使得在计量芯片发生异常时，实现可靠计量；

在对时钟精度要求低于预设要求时，选择使用芯片内的时钟振荡源，以减少MCU运行时钟对外部组件的依赖；

MCU与外部组件进行数据交互，当进行通讯过程中的可变数据传输时，采用先“镜像”再传输的方式；或采用多次读取的方式。

7.一种面向电能表的自检测系统，其特征在于，所述系统包括：

自检单元，用于启动电能表主控制器MCU后，进行MCU运行环境和电能表内部元器件的自检；

实时监测单元，用于当自检通过后，在程序运行过程中，进行RAM和代码区的实时监测；

检测单元，用于在软件运行过程中，按照预设的时间间隔对电能表进行不同维度的检测。