[发明专利]能量辐射装置的幅面亮度检测方法、系统、及3D打印设备有效

专利信息
申请号: 202110997309.2 申请日: 2021-08-27
公开(公告)号: CN113696481B 公开(公告)日: 2023-04-14
发明(设计)人: 荣左超 申请(专利权)人: 上海联泰科技股份有限公司
主分类号: B29C64/264 分类号: B29C64/264;B29C64/393;B33Y30/00;B33Y50/02
代理公司: 上海德理达知识产权代理事务所(普通合伙) 31505 代理人: 王再朝
地址: 201612 上海市松江区莘砖公*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 能量 辐射 装置 幅面 亮度 检测 方法 系统 打印 设备
【权利要求书】:

1.一种能量辐射装置的幅面亮度检测方法,其特征在于,所述能量辐射装置用于3D打印设备,所述亮度检测方法包括以下步骤:

令所述能量辐射装置向位于其投影方向上的一成像装置投影一检测图案;其中,所述检测图案中包括若干相同的检测点;

令一摄像装置拍摄检测图案在所述成像装置上的成像以得到检测图像,并通过校正数据对所述检测图像进行校正,以得到校正图像;其中,所述校正数据是通过对摄像装置进行标定操作而得到的,所述校正图像中包括若干对应于所述检测点的亮度区域;

分析所述校正图像中各亮度区域的成像亮度,以作为所述能量辐射装置的幅面亮度检测数据。

2.根据权利要求1所述的能量辐射装置的幅面亮度检测方法,其特征在于,所述对摄像装置进行标定操作的步骤包括:

令一摄像装置拍摄一纯色均匀光源的成像以得到第一标定图像;

对所述第一标定图像中的有效区域进行图像处理,以得到校正数据;其中,所述校正数据用于对所述第一标定图像进行校正,以使所述有效区域中各子区域的亮度差在阈值范围内。

3.根据权利要求2所述的能量辐射装置的幅面亮度检测方法,其特征在于,还包括对所述纯色均匀光源的亮度和/或所述摄像装置的拍摄参数进行调整,以使所述摄像装置的曝光量与所述纯色均匀光源的亮度相匹配。

4.根据权利要求2所述的能量辐射装置的幅面亮度检测方法,其特征在于,还包括检验校正数据的步骤:

重复拍摄所述纯色均匀光源的成像以得到第二标定图像;

利用所述校正数据校正第二标定图像;

检测校正后的第二标定图像中有效区域的各子区域的亮度差是否在所述阈值范围内;

若是,则确定该校正数据;若否,则重复执行对摄像装置进行标定操作的步骤,直到所得到的校正数据能够使第二标定图像中有效区域的各子区域的亮度差在所述阈值范围内。

5.根据权利要求1所述的能量辐射装置的幅面亮度检测方法,其特征在于,所述通过校正数据对所述检测图像进行校正,以得到校正图像的步骤还包括:

基于所述检测图像中多个检测点的实际成像位置和理论成像位置,确定所述检测点的实际成像位置和理论成像位置之间的转换关系;

根据各检测点的实际成像位置、所述转换关系、以及校正数据,对所述检测图像进行校正,以得到所述校正图像。

6.根据权利要求5所述的能量辐射装置的幅面亮度检测方法,其特征在于,所述根据各检测点的实际成像位置、所述转换关系、以及校正数据,对所述检测图像进行校正的步骤包括:

基于所述各检测点的实际成像位置、所述转换关系,确定第一校正图像;其中,所述第一校正图像中包括各检测点的理论成像位置;

通过所述校正数据对所述第一校正图像进行校正,以得到第二校正图像;其中,所述第二校正图像中各亮度区域的成像亮度用以作为所述能量辐射装置的幅面亮度检测数据。

7.根据权利要求1所述的能量辐射装置的幅面亮度检测方法,其特征在于,所述亮度区域包括至少一标定点对应的成像区域。

8.根据权利要求7所述的能量辐射装置的幅面亮度检测方法,其特征在于,所述分析校正图像中各亮度区域的成像亮度的步骤包括:将每一所述亮度区域中各选定像素的灰度值相加,以作为该亮度区域的成像亮度。

9.根据权利要求8所述的能量辐射装置的幅面亮度检测方法,其特征在于,所述选定像素的选定标准包括灰度阈值。

10.根据权利要求1所述的能量辐射装置的幅面亮度检测方法,其特征在于,还包括对所述能量辐射装置的出光强度进行调整,以使投影出的所述检测图案的亮度与所述摄像装置的曝光量相匹配。

11.根据权利要求1所述的能量辐射装置的幅面亮度检测方法,其特征在于,所述摄像装置的拍摄面尺寸大于所述能量辐射装置的幅面尺寸。

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