[发明专利]基于mmap系统的内存读写速率测试方法、装置及系统

说明书

本发明提供一种基于mmap系统的内存读写速率测试方法、装置及系统，属于嵌入式设备测试技术领域。所述方法包括：S1)在第一采集时刻获取待测设备的设备文件；S2)在mmap系统将所述设备文件的内存物理地址映射至用户空间的虚拟地址；S3)在所述用户空间的虚拟地址开始所述待测设备的内存读写直至第二采集时刻，获取第一采集时刻与第二采集时刻之间的内存读写数据量；S4)根据第一采集时刻与第二采集时刻之间的间隔时间长度和第一采集时刻与第二采集时刻之间的内存读写数据量，计算所述待测设备的内存读写速率。本发明方案直接在用户空间访问待测设备的物理内存，中间不存在调用步骤，减少了测试过程中的开销，同时规避了cache的处理问题。

技术领域

本发明涉及嵌入式设备测试技术领域，具体地涉及一种基于mmap系统的内存读写速率测试方法、一种基于mmap系统的内存读写速率测试装置及一种基于mmap系统的内存读写速率测试系统。

背景技术

完成嵌入式设备开发后，需要进行大量的性能测试，其中，内存的性能指标测试至关重要。在现有的内存性能测试中，大多通过编写测试demo对内存性能进行测试。自行编写的demo大多使用calloc等c库函数或直接读文件到内存来对内存性能进行测试。这会伴随有一定的系统调用过程，其中产生的开销会对测试结果造成影响，而且CPU读取数据时也会优先读取cache，这也会使的测试结果不可靠。为了避免这种情况，大多采用在每次测试前清除cache，这会增多测试工序，使得测试时间加长。所以现在的测试方法无法同时保证测试准确性和较快的测试时间，导致无法适应嵌入式设备开发量增大的测试现状。针对现有内存性能测试方法存在的测试度不足和效率低的问题，需要创造一种新的内存性能测试方法。

发明内容

本发明实施方式的目的是提供一种基于mmap系统的内存读写速率测试方法、装置及系统，以至少解决现有内存性能测试方法存在的测试度不足和效率低的问题。

为了实现上述目的，本发明第一方面提供一种基于mmap系统的内存读写速率测试方法，所述方法包括：S1)在第一采集时刻获取待测设备的设备文件；S2)在mmap系统将所述设备文件的内存物理地址映射至用户空间的虚拟地址；S3)在所述用户空间的虚拟地址开始所述待测设备的内存读写直至第二采集时刻，获取第一采集时刻与第二采集时刻之间的内存读写数据量；S4)根据第一采集时刻与第二采集时刻之间的间隔时间长度和第一采集时刻与第二采集时刻之间的内存读写数据量，计算所述待测设备的内存读写速率。

可选的，所述待测设备的设备文件包括：/dev/mem文件。

可选的，步骤S1)中，所述在第一采集时刻获取待测设备的设备文件，包括：在待测设备的Linux系统中进行/dev/mem文件的设备文件识别；提取识别的设备文件。

可选的，步骤S4)中，所述待测设备的内存读写速率计算公式为：

其中，v为所述待测设备的内存读写速率；m为第一采集时刻与第二采集时刻之间的内存读写数据量；t为第一采集时刻与第二采集时刻之间的间隔时间长度。

可选的，所述方法还包括：执行步骤S1)-S3)N次，获得N个内存读写数据量；其中，N次执行过程中，第一采集时刻与第二采集时刻之间的N个间隔时间长度均不同；根据N个内存读写数据量和对应的N个间隔时间长度，计算获得对应的N个内存读写速率；计算N个内存读写速率的平均值，将所述平均值作为所述待测设备的内存读写速率。