[发明专利]一种高速采样速率下的毛刺检测方法及系统

说明书

本发明公开了一种高速采样速率下的毛刺检测方法，包括以下步骤：S1：采集待识别数据；S2：对待识别数据进行处理得到正常采样数据；S3：对待识别数据进行毛刺识别获得正常采样数据的毛刺位置。本发明还公开了实现一种高速采样速率下的毛刺检测方法的一种高速采样速率下的毛刺检测系统，包括采集单元以及毛刺识别单元，所述采集单元采集待识别数据并对待识别数据进行处理得到正常采样数据；所述毛刺识别单元对待识别数据进行毛刺识别获得正常采样数据的毛刺位置。本发明可实现高速采样速率下准确的毛刺检测。

技术领域

本发明涉及数据域测试领域，特别是一种高速采样速率下的毛刺检测方法及系统。

背景技术

随着半导体技术的高速发展，现代数字系统工作频率也越来越高，信号的建立/保持时间也越来越短，信号上的毛刺可能导致系统的其他单元做出错误的响应。因此，对于准确而快速实现毛刺检测的需求越来越迫切，这对数据测试领域提出了更高的要求。

为了更好的对数字电路进行测试分析，作为数据域测试仪器，逻辑分析仪的毛刺检测能力迫切需要大幅提升。根据毛刺信号的定义可知，宽度小于当前取样间隔的脉冲即为毛刺。用户根据实际需要设置系统采样率，系统内部识别该采样率下的正常采样数据和毛刺位置并显示在界面上。

目前，逻辑分析仪毛刺检测的设计原理一般是：触发器在高速定时时钟下对信号进行采集，同时对脉冲进行计数，当脉冲个数小于一定值，将该信号标识为毛刺，并显示在界面上。

但是，随着数字系统工作频率越来越快，毛刺脉冲脉宽越来越窄，由于触发器工作时钟的限制，无法实现ps级脉宽的检测。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种高速采样速率下的毛刺检测方法及系统，实现高速采样速率下准确的毛刺检测。

本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：

一种高速采样速率下的毛刺检测方法，包括以下步骤：

S1：采集待识别数据；

S2：对待识别数据进行处理得到正常采样数据；

S3：对待识别数据进行毛刺识别获得正常采样数据的毛刺位置。

进一步，步骤S2是根据定时分析速率对待识别数据进行等间隔抽取得到正常采样数据。

进一步，步骤S3包括以下子步骤：

S301：对当前采样时刻的上一采样时刻下的待识别数据、当前采样时刻下的待识别数据以及当前采样时刻的下一采样时刻下的待识别数据进行首尾拼接得到拼接数据；

S302：根据拼接数据以及等间隔抽取的间隔数提取跳变沿位置数据并根据跳变沿位置数据识别毛刺。

进一步，进行步骤S301时，对于当前采样时刻的上一采样时刻下的待识别数据只取最后一位，对于当前采样时刻的下一采样时刻下的待识别数据取前[等间隔抽取的间隔数-1]位。

进一步，所述步骤S302包括以下子步骤：

(1)根据拼接数据进行计算提取跳变沿位置数据；

(2)根据跳变沿位置数据判断两个相邻跳变沿之间的位置差是否小于等间隔抽取的间隔数；若两个相邻跳变沿之间的位置差小于等间隔抽取的间隔数，则相应位置的正常采样数据出现毛刺(以毛刺脉冲的第一个跳变沿位置为准)；否则相应位置的正常采样数据未出现毛刺。

进一步，步骤(1)是对拼接数据的相邻位进行下式所示的两两异或运算得到跳变沿位置数据：

式中，Edge[i]表示跳变沿位置数据；Edge[i]为1表示正常采样数据的相应位置出现跳变沿，Edge[i]为0表示正常采样数据的相应位置未出现跳变沿。