[发明专利]一种分集天线的检测方法、装置、电子设备和存储介质在审
申请号: | 202110977306.2 | 申请日: | 2021-08-24 |
公开(公告)号: | CN113824511A | 公开(公告)日: | 2021-12-21 |
发明(设计)人: | 何文卿 | 申请(专利权)人: | 上海闻泰信息技术有限公司 |
主分类号: | H04B17/10 | 分类号: | H04B17/10;H04B1/40 |
代理公司: | 北京开阳星知识产权代理有限公司 11710 | 代理人: | 祝乐芳 |
地址: | 200062 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 分集 天线 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种分集天线的检测方法,其特征在于,所述方法应用于射频电路,所述射频电路包括射频收发器、分集开关和分集天线,其中,所述射频收发器包括信号发射口;所述分集天线与所述分集开关的第一端电连接,所述分集开关的第二端与所述射频收发器电连接;
所述方法包括:
在接收到天线通路检测指令后,获取所述分集天线对应的馈电点位置处的第一目标信号,其中,所述馈电点为所述分集开关与所述分集天线的电连接点;
在所述第一目标信号满足第一预设阈值时,控制所述射频收发器发射天线测试信号至所述分集天线;
获取分集天线发射的第二目标信号;
在所述第二目标信号满足第二预设阈值时,确定分集天线的发射通路导通。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在接收到天线通路检测指令后,获取所述分集天线对应的馈电点位置处的第一目标信号,包括:
在接收到天线通路检测指令后,下发所述天线通路检测指令至所述射频收发器;
控制所述射频收发器通过所述信号发射口发射与所述天线通路检测指令对应的通路测试信号;
获取所述分集天线对应的馈电点位置处的第一目标信号。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在所述第一目标信号满足第一预设阈值时,控制所述射频收发器发射天线测试信号至所述分集天线,包括:
在所述第一目标信号满足第一预设阈值时,下发天线检测指令至所述射频收发器;
控制所述射频收发器通过所述信号发射口发射与所述天线检测指令对应的天线测试信号至所述分集天线。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述在所述第一目标信号满足第一预设阈值时,下发天线检测指令至所述射频收发器,包括:
在所述第一目标信号满足第一预设阈值时,将所述通路测试信号存储至指令信号表格;
从所述指令信号表格中选取天线测试信号对应的天线检测指令,并将所述天线检测指令下发至所述射频收发器。
5.根据权利要求2-4任一项所述的方法,其特征在于,所述在所述第一目标信号满足第一预设阈值时,控制所述射频收发器发射天线测试信号至所述分集天线,包括:
在所述第一目标信号与所述通路测试信号的差值小于或等于第一预设阈值时,控制所述射频收发器发射天线测试信号至所述分集天线。
6.根据权利要求1-4任一项所述的方法,其特征在于,所述在所述第二目标信号满足第二预设阈值时,确定分集天线的发射通路导通,包括:
在所述第二目标信号与所述天线测试信号的差值小于或等于第二预设阈值时,分集天线的发射通路导通;
在所述第二目标信号与所述天线测试信号的差值大于第二预设阈值时,所述分集天线的发射通路异常。
7.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述射频电路还包括耦合器,所述分集开关包括单刀三掷开关,所述分集天线与所述耦合器的第一端电连接,所述耦合器的第二端与所述单刀三掷开关的静触点电连接,所述单刀三掷开关的第一动触点与所述信号发射口电连接;
所述在接收到天线通路检测指令后,控制所述射频收发器通过所述信号发射口发射通路测试信号,包括:
在接收到天线通路检测指令后,控制所述单刀三掷开关的静触点与所述第一动触点电连接,以使所述射频收发器通过所述信号发射口发射通路测试信号。
8.一种分集天线的检测装置,其特征在于,包括:
第一目标信号获取模块,用于在接收到天线通路检测指令后,获取馈电点位置处的第一目标信号,其中,所述馈电点为所述分集开关与所述分集天线的电连接点;
天线测试信号发射模块,用于在所述第一目标信号的强度值满足第一预设阈值时,控制射频收发器发射天线测试信号至所述分集天线;
第二目标信号获取模块,用于获取分集天线发射的第二目标信号;
天线状态确定模块,用于在所述第二目标信号满足第二预设阈值时,确定分集天线的发射通路导通。
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