[发明专利]一种设备测试方法、系统、装置、电子设备及存储介质在审
申请号: | 202110972660.6 | 申请日: | 2021-08-24 |
公开(公告)号: | CN113671292A | 公开(公告)日: | 2021-11-19 |
发明(设计)人: | 储铜江;张启益 | 申请(专利权)人: | 苏州欧清电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 苏舒音 |
地址: | 215011 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 设备 测试 方法 系统 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种设备测试方法,其特征在于,应用于设备测试系统,包括:
确定多个待测设备的至少一个测试项目;
在确定各所述测试项目为第一测试项目的情况下,确定各所述待测设备的测试项目的错位测试顺序;其中,各所述待测设备在同一错位测试顺序的测试项目不同;
根据所述错位测试顺序对各所述待测设备的测试项目进行错位测试。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定各所述测试项目为第一测试项目,包括:
根据本地配置数据确定同步测试项目类型;其中,所述本地配置数据包括本地配置的目标测试模块的类别以及每个所述目标测试模块的数量;
在确定所述测试项目与所述同步测试项目类型不完全匹配的情况下,将所述测试项目确定为所述第一测试项目。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,还包括:
在确定所述测试项目与所述同步测试项目类型完全匹配的情况下,确定所述待测设备的测试项目为第二测试项目;
确定所述待测设备的测试项目的同步测试顺序;
根据所述同步测试顺序对各所述待测设备的测试项目进行同步测试。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定各所述待测设备的测试项目的错位测试顺序,包括:
确定所述待测设备的基础测试环节包括的基础同步测试项目,为所述基础同步测试项目分配基础同步测试顺序;其中,各所述待测设备在同一基础同步测试顺序的测试项目相同;
确定所述待测设备的非基础测试环节包括的测试项目,根据所述基础同步测试顺序为所述非基础测试环节包括的测试项目分配错位测试顺序。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,在所述根据所述基础同步测试顺序为所述非基础测试环节包括的测试项目分配错位测试顺序之后,还包括:
通过GPIO通用型输入输出引脚向所述待测设备发送低电压信号,以使所述待测设备进入测试状态;
通过UART通用异步收发传输器通信方式按照所述错位测试顺序向所述待测设备发送测试开启信号,以使所述待测设备的所述测试项目进入测试状态。
6.根据权利要求1-5任一所述的方法,其特征在于,所述待测设备包括遥控器。
7.一种设备测试系统,其特征在于,包括中心控制模块以及目标测试模块,其中:
所述中心控制模块与所述目标测试模块通信连接,用于确定多个待测设备的至少一个测试项目;在确定各所述测试项目为第一测试项目的情况下,确定各所述待测设备的测试项目的错位测试顺序;其中,各所述待测设备在同一错位测试顺序的测试项目不同;
所述目标测试模块,用于根据所述错位测试顺序对各所述待测设备的测试项目进行错位测试。
8.一种设备测试装置,其特征在于,包括:
测试项目确定模块,用于确定多个待测设备的至少一个测试项目;
错位测试顺序确定模块,用于在确定各所述测试项目为第一测试项目的情况下,确定各所述待测设备的测试项目的错位测试顺序;其中,各所述待测设备在同一错位测试顺序的测试项目不同;
错位测试模块,用于根据所述错位测试顺序对各所述待测设备的测试项目进行错位测试。
9.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:
一个或多个处理器;
存储装置,用于存储一个或多个程序;
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行,使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-6中任一所述的设备测试方法。
10.一种计算机存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现如权利要求1-6中任一所述的设备测试方法。
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