[发明专利]一种批量同时测试设备的方法及系统

说明书

本发明提供了一种批量同时测试设备的方法，包括服务器和分别与所述服务器通信连接的多个测试工位，所述集线器实现多个所述待测设备多端口的同时连接，所述处理端用于对待测设备测试，所述第一工序的测试工位包括：与待测设备连接；向所述待测设备启动测试；生成所述待测设备的测试报告上传至所述服务器；所述非第一工序的测试工位与待测设备连接；从所述服务器获取所述待测设备于上一位的测试工位产生的测试报告，并判断是否启动测试工位的测试，实现同时对多个被测设备的测试，并可以判断所述待测设备是否存在漏测的情况，确保了测试的完整性。

技术领域

本发明涉及生产信息化管理技术领域，尤其涉及一种批量同时测试设备的方法及系统。

背景技术

近年来智能机顶盒，智能音箱，智能摄像头等智能终端产品的大规模使用，市场竞争越来越激烈，对智能终端设备的生产效率，质量保证，生产成本要求越来越高，智能终端设备产品的生产为了保证产品的质量，在智能终端设备生产过程中，都需要对智能终端设备的PCBA和整机进行功能和性能指标的测试。

目前，由于智能终端设备产品规模化生产数量庞大，通常采用的是批次抽查进行测试，造成生产的智能终端设备产品的测试基数小，容易有遗漏，因此不可避免的就需要追求一种高效的同时测试智能终端设备的方法。

发明内容

针对现有技术中所存在的不足，本发明提供了一种批量同时测试设备的方法及系统，以解决相关技术中智能终端设备产品的测试基数小，容易有遗漏的技术问题。

在第一方面，本发明提供了一种批量同时测试设备的方法，包括服务器和分别与所述服务器通信连接的多个测试工位；

位于第一工序的所述测试工位，包括如下步骤：与待测设备连接；对所述待测设备进行测试；生成所述待测设备的测试报告上传至所述服务器；

位于非第一工序的所述测试工位，包括如下步骤：与待测设备连接；从所述服务器获取所述待测设备于上一工序的测试工位产生的测试报告，若所述待测设备通过第一工序的所述测试工位的测试，则所述非第一工序的测试工位向所述待测设备启动测试。

可选地，所述测试工位包括集线器和处理端，所述集线器和所述处理端通信连接，所述集线器用于同时连接多个待测设备，所述处理端用于对所述待测设备测试。

另一方面，本发明提供了一种批量同时测试设备的方法，包括服务器和分别与所述服务器通信连接的多个测试工位，包括如下步骤：

所述测试工位与所述待测设备连接；所述测试工位读取所述待测设备的设备信息，并上传至所述服务器验证；

通过验证后检测所述待测设备是否产生有测试报告，若没有则进行测试，若有则分析测试报告，根据测试报告的阶段进行相应阶段的测试。

可选地，还包括传送装置，所述待测设备完成测试工位的测试，断开与所述测试工位的连接，通过所述传送装置传送至下一位的所述测试工位。

另一方便，本发明还提供了一种批量同时测试设备的系统，包括服务器分别与所述服务器通信连接的多个测试工位；

第一工序的测试工位，用于连接待测设备；用于对待测设备进行测试并将测试报告上传至服务器；

所述服务器，用于存储多个测试工位测试所述待测设备的测试报告。

非第一工序的测试工位，还用于从所述服务器获取所述待测设备于上一位的测试工位产生的测试报告。

可选地，所述测试工位包括集线器和处理端，所述集线器包括第一接口模块，所述第一接口模块包含多个接口端，用于连接处理端和同时连接多个待测设备；所述处理端包括第二接口模块和验证模块，所述第二接口模块分别用于连接所述第一接口模块和服务器，所述验证模块用于所述处理端连接所述待测设备时读取所述待测设备的设备信息并上传服务器验证，同时获取所述待测设备是否通过上一位的测试工位测试的信息。