[发明专利]显示面板的亮度调节方法及装置有效
| 申请号: | 202110966799.X | 申请日: | 2021-08-23 |
| 公开(公告)号: | CN113744704B | 公开(公告)日: | 2022-11-01 |
| 发明(设计)人: | 卓圣田 | 申请(专利权)人: | 集创北方(珠海)科技有限公司 |
| 主分类号: | G09G5/10 | 分类号: | G09G5/10 |
| 代理公司: | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人: | 蔡纯;张靖琳 |
| 地址: | 519000 广东省珠海市香洲区横*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 显示 面板 亮度 调节 方法 装置 | ||
本发明公开了一种显示面板的亮度调节方法及装置,该方法包括:获取显示面板上多个像素的亮度数据;基于多个像素的亮度数据、预先设置的目标亮度数据、以及显示面板上像素的老化曲线获得多个像素的补偿数据;利用补偿数据驱动多个像素,并对多个像素进行老化处理,以将显示面板的亮度调节至目标亮度。本发明在无需增加额外的DIC电路和外部存储器的情况下即可使得显示面板的亮度趋于一致,提高了显示面板的显示均一性。
技术领域
本发明涉及显示技术领域,具体涉及一种显示面板的亮度调节方法及装置。
背景技术
LED(Light-Emitting Diode,发光二极管)显示技术及OLED(Organiclight-Emitting Diode,有机发光二极管)显示技术在平板信息显示领域均受到广泛的关注。两种技术均具有自发光、高亮度、高对比度、宽视角、工作温度范围大和高可靠性等优点。
LED/OLED显示器都包含有相应的显示面板。而由于生产过程的材料差异及/或制程工艺误差等原因,部分的显示面板会出现Mura现象。其中,Mura是指在显示面板内因子像素亮度不均所造成各种痕迹(例如亮暗色斑)的现象,其会带来视觉上的不适,严重影响液晶面板的品质。为改善mura缺陷,de-mura技术得到了广泛应用。de-mura技术根据显示面板不同区域的亮度和色度偏移情况,通过改变显示画面的灰阶,提高显示面板的显示均一性。目前常用的de-mura形式有内部补偿和外部补偿。
内部补偿是在补偿阶段把TFT的阈值电压(Vth)先储存在它的栅源电压(Vgs)内,在发光时把Vgs-Vth转化为电流,由于Vgs已经含有了Vth,在转化成电流时就把Vth的影响抵消了,从而实现了电流的一致性。但是,但是内部补偿的补偿效果仅限于驱动电路的阈值电压漂移(Vth shift)和电源压降(IR drop),补偿效果有限。
外部补偿则是通过外部的驱动电路或设备侦测像素的电学或光学特性,然后进行补偿,以LG公司已量产的OLED显示装置为代表。外部补偿根据侦测的数据类型不同又可分为光学和电学两种。光学方式是指将背板点亮后通过光学CCD(Charge Coupled Device,电荷耦合器件)摄影的方式读取亮度信号,而电学方式则是指通过感应电路读取TFT和OLED的电学信号。其中,电学方式与内部补偿一样,仅能得知电流差异,补偿效果有限。相比之下,光学方式的补偿效果最好,应用最广泛,但是光学方式需要额外增加DIC电路(DisplayIntegrated Circuit,显示集成电路,该DIC电路主要用以将补偿数据带入显示影响电路,以及实现对Falsh、SRAM等存储器的操作)与大量存储器空间(例如外部Falsh,内部SRAM)。
因此,有必要提供改进的技术方案以克服现有技术中存在的以上技术问题。
发明内容
为了解决上述技术问题,本发明提供了一种显示面板的亮度调节方法及装置,利用收集的显示面板上像素的老化曲线将亮度采集装置(如摄影机)所收集的亮度不均数据,通过高温点亮面板的方式,在无需增加额外的DIC电路和外部存储器的情况下即可使得显示面板的亮度趋于一致,提高了显示面板的显示均一性。
根据本公开第一方面,提供了一种显示面板的亮度调节方法,包括:获取显示面板上多个像素的亮度数据;
基于所述多个像素的亮度数据、所述多个像素的目标亮度数据、以及所述显示面板上像素的老化曲线获得所述多个像素的补偿数据;
利用所述补偿数据驱动所述多个像素,并对所述多个像素进行老化处理,以将所述显示面板的亮度调节至目标亮度。
可选地,获取显示面板上多个像素的亮度数据包括:
控制所述显示面板显示测试图像;
利用亮度采集装置采集获取所述显示面板上多个像素的亮度数据。
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