[发明专利]检测样品表面污染物的方法、装置和计算机可读取介质

权利要求书

1.一种检测样品表面污染物的方法，包括：

-获取样品光谱；

-对样品光谱进行主成分分析，取前三个主成分所对应的波段数据生成假彩色图像；

-从假彩色图像中识别受污染区和未污染区；

-分别获取受污染区与未污染区的光谱；

-比较受污染区与未污染区的光谱差异，以及根据所述差异定位一个或多个特征波长；

-根据所述特征波长确定污染物的一个或多个性质。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述样品光谱为样品的高光谱图像。

3.根据权利要求2所述的方法，所述高光谱图像是在以下一项或多项光谱测试条件下采集的：

-高光谱的波长范围为400-2500nm；

-高光谱的波段数为250～300；

-高光谱的光谱分辨率为15nm以下；

-高光谱的空间分辨率为1mm²/个像素以下。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，获取样品光谱的步骤包括：采集原始光谱，根据样品的反射率从原始光谱中筛选感兴趣区域。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述样品是卷烟烟支，所述感兴趣区域被定义为：在波长1300nm处反射率大于0.45的区域。

6.根据权利要求1所述的方法，从假彩色图像中识别受污染区和未污染区步骤包括：利用边缘检测算法来确定受污染区。

7.根据权利要求6所述的方法，其中，所述受污染区是至少3个像素以上的连通区域。

8.根据权利要求1所述的方法，其中，获取受污染区与未污染区的光谱的操作中包括：分别计算受污染区与未污染区的平均光谱，以及对所述平均光谱进行包络线去除操作。

9.根据权利要求1所述的方法，根据所述差异定位一个或多个特征波长的步骤包括：将受污染区与未污染区的光谱相减以获得相对光谱，以及确定相对光谱曲线吸收特征峰位置波长。

10.根据权利要求1所述的方法，根据所述特征波长确定污染物的一个或多个性质包括：基于特征波长确定污染物的种类。

11.一种检测样品表面污染物的装置，包括：

存储器；和

耦接至所述存储器的处理器，所述处理器被配置为基于存储在所述存储器装置中的指令，执行权利要求1-10任一项所述的检测样品表面污染物的方法；

优选地，所述检测样品表面污染物的装置还包括光谱仪，光谱仪向储存器输出样品光谱。

12.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现权利要求1-10任一项所述的检测样品表面污染物的方法。