[发明专利]固态硬盘的性能测试方法、装置、设备及可读存储介质

说明书

本发明提供一种固态硬盘的性能测试方法、装置、设备及可读存储介质，该方法包括：启动多台测试机；获取各台测试机所包含的多个性能测试工具的测试顺序，根据所述测试顺序，对固态硬盘进行测试，获取第一测试日志以及第一测试结果；若第一测试日志不完整，则判断是否继续对固态硬盘进行测试；若第一测试日志完整，则将固态硬盘初始化，再继续对固态硬盘进行测试，获取第二测试日志以及第二测试结果；以此类推，统计对固态硬盘的测试结果。通过本发明，启动多台测试机对多台测试机所连接的固态硬盘进行测试，并统计测试结果，解决了对固态硬盘进行性能测试时，耗时耗力、测试效率低且测试结果的统计容易出错的问题。

技术领域

本发明涉及计算机领域，尤其涉及一种固态硬盘的性能测试方法、装置、设备及可读存储介质。

背景技术

随着物联网、大数据、云存储的数据存储量持续加大、存储规模继续增加、性能需求不断增高，存储产品的性能也越来越受到关注。在现有的固态硬盘性能测试中，既存在一些业界标准的性能测试工具进行相应存储产品的性能评估，也存在各个存储供应商与终端客户自研的性能测试工具进行相应存储产品的性能评估。

但是，对固态硬盘的性能测试以及结果统计大多都是通过人工手动进行操作，且，每台测试机连接一个固态硬盘，当有多个固态硬盘的性能需要被测试时，可以通过一台测试机对多个存储产品依次进行测试或用多台测试机对多个固态硬盘进行测试。

如果通过一台测试机对多个固态硬盘依次进行测试，则需要耗费大量的时间，且测试效率低。如果用多台测试机对多个固态硬盘进行测试，则需要增加人工对测试机进行监控，就需要大量的劳动力，且测试结果的统计也容易出现纰漏。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种固态硬盘的性能测试方法、装置、设备及可读存储介质，旨在解决对固态硬盘进行性能测试时，耗时耗力、测试效率低且测试结果的统计容易出错的问题。

第一方面，本发明提供一种固态硬盘的性能测试方法，包括以下步骤：

启动多台测试机，其中每台测试机连接一个固态硬盘；

获取各台测试机所包含的多个性能测试工具的测试顺序，根据所述测试顺序，控制排在第一的第一性能测试工具对固态硬盘进行测试，获取第一测试日志以及第一测试结果；

检测第一测试日志是否完整；

若第一测试日志不完整，则根据第一性能测试工具的限定条件判断是否控制排在第二的第二性能测试工具继续对固态硬盘进行测试；

若第一测试日志完整，则将固态硬盘初始化，再控制排在第二的第二性能测试工具继续对固态硬盘进行测试，获取第二测试日志以及第二测试结果；

以此类推，统计各台测试机所包含的多个性能测试工具对固态硬盘的测试结果。

可选的，所述控制排在第一的第一性能测试工具对固态硬盘进行测试的步骤包括：

获取排在第一的第一性能测试工具的测试参数，根据第一性能测试工具的测试参数，对固态硬盘进行测试，所述测试参数包括：测试的时间、测试的范围、测试的队列深度、测试的传输大小以及测试的循环数。

可选的，所述控制排在第一的第一性能测试工具对固态硬盘进行测试，获取第一测试日志的步骤包括：

获取第一性能测试工具的最大重测次数N，控制排在第一的第一性能测试工具对固态硬盘进行测试，获取测试日志，若测试日志不完整，则控制第一性能测试工具重新对固态硬盘进行测试；

若第一性能测试工具重新对固态硬盘进行第N次测试时，测试日志仍不完整，则以第N次对固态硬盘进行测试得到的测试日志作为第一测试日志；