[发明专利]一种气体纯化装置、稀有气体同位素的测定设备及其方法

权利要求书

1.一种气体纯化装置，其特征在于，包括：

壳体，所述壳体具有反应腔，所述反应腔处于真空状态，且所述反应腔能够容置气体样品；及

纯化机构，所述纯化机构设置于所述壳体上，所述纯化机构具有空腔，所述纯化机构的所述空腔与所述反应腔连通，所述纯化机构用于对反应腔内的所述气体样品进行纯化处理，以得到纯化后的气体。

2.根据权利要求1所述的气体纯化装置，其特征在于，所述纯化机构包括水蒸气去除组件，所述水蒸气去除组件具有第一容置腔，所述第一容置腔与所述反应腔连通，所述水蒸气去除组件用于去除所述反应腔内的所述气体样品的水蒸气。

3.根据权利要求2所述的气体纯化装置，其特征在于，所述水蒸气去除组件包括冷指和冷却剂，所述冷指具有所述第一容置腔，所述冷指浸泡于所述冷却剂中，并使得所述反应腔内的水蒸气冷却凝结成冰。

4.根据权利要求1所述的气体纯化装置，其特征在于，所述纯化机构还包括活性气体去除组件，所述活性气体去除组件设置于所述壳体上，所述活性气体去除组件具有第二容置腔，所述第二容置腔与所述反应腔连通，所述活性气体去除组件用于去除所述反应腔内的活性气体。

5.根据权利要求4所述的气体纯化装置，其特征在于，所述活性气体去除组件为海绵钛炉。

6.根据权利要求1所述的气体纯化装置，其特征在于，所述纯化机构还包括氢气去除组件，所述氢气去除组件设置于所述壳体上，所述氢气去除组件具有第三容置腔，所述第三容置腔与所述反应腔连通，所述氢气去除组件用于去除所述反应腔内的氢气。

7.根据权利要求6所述的气体纯化装置，其特征在于，所述氢气去除组件为锆铝泵。

8.根据权利要求1所述的气体纯化装置，其特征在于，所述纯化机构还包括活性炭阱，所述活性炭阱设置于所述壳体上，所述活性炭阱具有第四容置腔，所述第四容置腔与所述反应腔连通，所述活性炭阱用于将所述反应腔内的稀有气体分离。

9.一种稀有气体同位素的测定设备，其特征在于，包括权利要求1至权利要求8任意一项所述的气体纯化装置和稀有气体同位素谱仪，所述稀有气体同位素谱仪设置于所述气体纯化装置上，所述稀有气体同位素谱仪用于对所述气体纯化装置内的稀有气体进行测定。

10.一种稀有气体同位素的测定方法，其特征在于，包括：

将气体样品输送至壳体的反应腔内；

开启水蒸气去除组件，去除所述气体样品中的水蒸气；

关闭所述水蒸气去除组件，开启活性气体去除组件，去除经过所述水蒸气去除组件处理的气体样品中的活性气体；

关闭所述活性气体去除组件，开启氢气去除组件，去除经过所述活性气体去除组件处理的气体样品中的氢气；

关闭所述氢气去除组件，将经过所述活性气体去除组件处理的气体样品中的稀有气体进行分离；

关闭所述活性气体去除组件，开启稀有气体同位素谱仪，对分离后的稀有气体进行同位素测定。